[PDF] GB 3441-1982 - 中国标准 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| GB 3441-1982 | 599 | GB 3441-1982 | <=4 | 半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB 3441-1982 (GB3441-1982) |
| 中文名称 | 半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理 |
| 英文名称 | General principles of measuring methods of ECL circuits for semiconductor integrated circuits |
| 行业 | 国家标准 |
| 中标分类 | L56 |
| 字数估计 | 15,138 |
| 发布日期 | 12/31/1982 |
| 实施日期 | 10/1/1983 |
| 采用标准 | IEC 147-2, NEQ |
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