[PDF] GB 5201-1985 - 中国标准 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| GB 5201-1985 | 359 | GB 5201-1985 | <=3 | 带电粒子半导体探测器测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB 5201-1985 (GB5201-1985) |
| 中文名称 | 带电粒子半导体探测器测试方法 |
| 英文名称 | Test procedures for semiconductor charged particle detectors |
| 行业 | 国家标准 |
| 中标分类 | F81 |
| 字数估计 | 9,964 |
| 发布日期 | 7/18/1985 |
| 实施日期 | 3/1/1986 |
| 采用标准 | IEC 333-1983, NEQ |
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