[PDF] GB 6618-1986 - 中国标准 英文版

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GB 6618-1986 199 GB 6618-1986 <=2 硅片厚度和总厚度变化的测试方法
   
基本信息
标准编号 GB 6618-1986 (GB6618-1986)
中文名称 硅片厚度和总厚度变化的测试方法
英文名称 Standard method for measuring thickness and total thickness variation of silicon slices
行业 国家标准
中标分类 H22
字数估计 3,345
发布日期 7/26/1986
实施日期 7/1/1987
采用标准 ASTM F533-1981, MOD

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相关标准: GB/T 8358  GB/T 2039  GB/T 4340.1  GB/T 3251