路径: 主页 > GB/T > 第249页 > GB/T 12273.1-2017 | 标准编号 | GB/T 12273.1-2017 (GB/T12273.1-2017) | | 中文名称 | 有质量评定的石英晶体元件 第1部分：总规范 | | 英文名称 | Quartz crystal units of assessed quality -- Part 1: Generic specification | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | L21 | | 国际标准分类 | 31.140 | | 字数估计 | 39,350 | | 发布日期 | 2017-05-31 | | 实施日期 | 2017-12-01 | | 旧标准 (被替代) | GB/T 12273-1996 | | 引用标准 | GB/T 2421.1-2008; GB/T 2423.1-2008; GB/T 2423.2-2008; GB/T 2423.3-2006; GB/T 2423.4-2008; GB/T 2423.5-1995; GB/T 2423.6-1995; GB/T 2423.8-1995; GB/T 2423.10-2008; GB/T 2423.15-2008; GB/T 2423.21-2008; GB/T 2423.22-2002; GB/T 2423.23-2013; GB/T 2423.28-200 | | 采用标准 | IEC 60122-1-2002, MOD | | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | | 范围 | GB/T 12273的本部分规定了采用能力批准程序或鉴定批准程序评定质量的石英晶体元件的试验方法和通用要求。 | GB/T 12273.1-2017
Quartz crystal units of assessed quality -- Part 1: Generic specification
ICS 31.140
L21
中华人民共和国国家标准
代替GB/T 12273-1996
有质量评定的石英晶体元件
第1部分:总规范
(IEC 60122-1:2002,MOD)
2017-05-31发布
2017-12-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
目次
前言 Ⅲ
1 总则 1
1.1 范围 1
1.2 规范性引用文件 1
1.3 优先顺序 2
2 术语和一般要求 3
2.1 通则 3
2.2 术语和定义 3
2.3 优先额定值和特性 14
2.4 标志 17
3 质量评定程序 17
3.1 总则 17
3.2 初始制造阶段 18
3.3 结构相似元件 18
3.4 分包 18
3.5 制造商批准 18
3.6 批准程序 18
3.7 能力批准程序 19
3.8 鉴定批准程序 19
3.9 试验程序 19
3.10 筛选要求 19
3.11 返工和返修 20
3.12 放行批证明 20
3.13 放行有效期 20
3.14 延期放行 20
3.15 不检查的参数 20
4 试验和测量程序 20
4.1 通则 20
4.2 替代的试验方法 20
4.3 测量准确度 20
4.4 标准试验条件 21
4.5 外观检验 21
4.6 尺寸检验和规检程序 21
4.7 电气试验程序 21
4.8 机械和环境试验程序 23
4.9 耐久性试验程序 27
附录A(规范性附录) 耐久性试验 28
附录B(资料性附录) 本部分与IEC 60122-1:2002相比的结构变化情况 31
附录C(资料性附录) 本部分与IEC 60122-1:2002技术性差异及其原因 33
前言
GB/T 12273《有质量评定的石英晶体元件》分为如下几个部分:
---第1部分:总规范;
---第2部分:使用指南;
---第3部分:标准外形和引出端连接;
---第4部分:分规范 能力批准;
---第4.1部分:空白详细规范 能力批准;
---第5部分:分规范 鉴定批准;
---第5.1部分:空白详细规范 鉴定批准。
本部分为GB/T 12273的第1部分。
本部分按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本部分代替GB 12273-1996《石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范 第1部分:总规
范》。本部分与GB/T 12273-1996相比,除编辑性修改外主要变化如下:
---标准编号根据标准不同部分进行了调整;
---标准名称由《石英晶体元件 电子元器件质量评定体系规范》改为《有质量评定的石英晶体元
件 第1部分:总规范》;
---根据电子元器件质量认证的通用规定,修正了上一版中引用文件的条款;
---用环境试验国家标准GB/T 2423代替对应的IEC 60068,它们在本部分的引用中无技术性
差异;
---增加了压电谐振器等效电路所用符号汇总(见表1),各个特征频率的定义、符号及表达式汇总
(见表2),各种压电石英晶体元件电容比最小值(见表3),串联谐振频率与各个特征频率的近
似数学表达式,动态参数的数学表达式(见表4);
---增加了阻抗、电抗与频率的对应关系图(见图2),增加了导纳圆图(见图3);
---在频率和谐振电阻的测量中增加了网络分析法的引用(见4.7.1);
---增加了DLD试验测量方法的引用(见4.7.2)。
本部分使用重新起草法修改采用IEC 60122-1:2002《有质量评定的石英晶体元件 第1部分:总规
范》,并将IEC 49/1015/CDIEC 60122-1:2002的修订件1作为附录A。
本部分与IEC 60122-1:2002相比,结构发生了变化,附录B中给出了章条编号对照情况一览表。
本部分与IEC 60122-1:2002相比存在技术性差异,这些差异涉及的条款已通过在其外侧页边空白
位置的垂直单线(|)进行了标识。附录C中给出了相应技术性差异及其原因的一览表。
本部分还作了下列编辑性修改:
---增加了IEC 60122-1:2002第3章悬置段的标题“3.1总则”;
---删除国际标准的参考文献。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC182)归口。
本部分起草单位:中国电子元件行业协会压电晶体分会、北京晨晶电子有限公司、工业和信息化部
电子工业标准化研究院。
本部分主要起草人:章怡、韩雪飞、姜连生、薛超。
本部分所代替规范的历次版本发布情况为:
---GB 12273-1990、GB/T 12273-1996。
有质量评定的石英晶体元件
第1部分:总规范
1 总则
1.1 范围
GB/T 12273的本部分规定了采用能力批准程序或鉴定批准程序评定质量的石英晶体元件的试验
方法和通用要求。
1.2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 2421.1-2008 电工电子产品环境试验概述和指南(IEC 60068-1:1988,IDT)
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温(IEC 60068-
2-1:2007,IDT)
GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温 (IEC 60068-
2-2:2007,IDT)
GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验
(IEC 60068-2-78:2001,IDT)
GB/T 2423.4-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Db:交变湿热(12h+
12h循环)(IEC 60068-2-30:2005,IDT)
GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击(idt
IEC 60068-2-27:1987)
GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Eb和导则:碰撞(idt
IEC 60068-2-29:1987)
GB/T 2423.8-1995 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ed:自由跌落(idt
IEC 60068-2-32:1990)
GB/T 2423.10-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc:振动(正弦)
(IEC 60068-2-6:1995,IDT)
GB/T 2423.15-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ga和导则:稳态加
速度 (IEC 60068-2-7:1986,IDT)
GB/T 2423.21-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验 M:低气压(IEC
60068-2-13:1983,IDT)
GB/T 2423.22-2002 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化(IEC
60068-2-14:1984,IDT)
GB......
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