[PDF] GB/T 13388-1992 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| GB/T 13388-1992 | 239 | GB/T 13388-1992 | <=2 | 硅片参考面结晶学取向X射线测量方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 13388-1992 (GB/T13388-1992) |
| 中文名称 | 硅片参考面结晶学取向X射线测量方法 |
| 英文名称 | Method for measuring crystallographic orientation of flats on single crystal sillcon slices and wafers by X-ray techniques |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | H21 |
| 国际标准分类 | 29.040.30 |
| 字数估计 | 6,699 |
| 发布日期 | 2/19/1992 |
| 实施日期 | 10/1/1992 |
| 采用标准 | ASTM F847, MOD |
| 标准依据 | Announcement of Newly Approved National Standards 2009 No. (No. 152 overall) 12 |
| 发布机构 | 国家技术监督局 |
......