[PDF] GB/T 14115-1993 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| GB/T 14115-1993 | 419 | GB/T 14115-1993 | <=3 | 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 14115-1993 (GB/T14115-1993) |
| 中文名称 | 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理 |
| 英文名称 | General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | L56 |
| 国际标准分类 | 31.2 |
| 字数估计 | 12,198 |
| 发布日期 | 1/21/1993 |
| 实施日期 | 8/1/1993 |
| 引用标准 | GB 3439; GB 3442, |
| 发布机构 | 国家技术监督局 |
| 范围 | 本标准规定了半导体集成电路采样/保持放大器(以下简称器件)电参数测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路采样/保持放大器的电参数测试。 |
......