[PDF] GB/T 14141-1993 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| GB/T 14141-1993 | 239 | GB/T 14141-1993 | <=2 | 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 14141-1993 (GB/T14141-1993) |
| 中文名称 | 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 |
| 英文名称 | Test method for sheet resistance of silicon epitaxial, diffused and ion-implanted layers using a collinear four-probe array |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | H21 |
| 国际标准分类 | 29.040.30 |
| 字数估计 | 6,668 |
| 发布日期 | 2/6/1993 |
| 实施日期 | 10/1/1993 |
| 采用标准 | ASTM F374-1984, MOD |
| 标准依据 | Announcement of Newly Approved National Standards 2009 No. (No. 152 overall) 12 |
| 发布机构 | 国家技术监督局 |
......