[PDF] GB/T 15972.20-2008 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| GB/T 15972.20-2008 | 759 | GB/T 15972.20-2008 | <=4 | 光纤试验方法规范 第20部分：尺寸参数的测量方法和试验程序 - - 光纤几何参数 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 15972.20-2008 (GB/T15972.20-2008) |
| 中文名称 | 光纤试验方法规范 第20部分：尺寸参数的测量方法和试验程序 - - 光纤几何参数 |
| 英文名称 | Specifications for optical fibre test methods -- Part 20: Measurement methods and test procedures for dimensions -- Fiber geometry |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | M33 |
| 国际标准分类 | 33.180.10 |
| 字数估计 | 19,179 |
| 发布日期 | 2008-04-10 |
| 实施日期 | 2008-11-01 |
| 旧标准 (被替代) | GB/T 15972.2-1998部分 |
| 引用标准 | GB/T 15972.10-2008 |
| 采用标准 | IEC 60793-1-20-2001, MOD |
| 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
| 范围 | GB/T 15972的本部分规定了测量未涂覆光纤几何参数的试验方法, 确立了测量的统一试验程序和技术要求。本部分适用于对A类多模光纤和B类单模光纤的测量和成品光纤光缆的商业性检验。 |
GB/T 15972.20-2008
Specifications for optical fibre test methods.Part 20:Measurement methods and test procedures for dimensions.Fiber geometry
ICS ３３．１８０．１０
M３３
中华人民共和国国家标准
GB/T １５９７２．２０-２００８
部分代替GB/T １５９７２．２-１９９８
光纤试验方法规范
第２０部分：尺寸参数的测量方法和
试验程序---光纤几何参数
（IEC ６０７９３-１-２０：２００１，Ｏｐｔｉｃａｌｆｉｂｒｅｓ-
Ｐａｒｔ１-２０：Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｍｅｔｈｏｄｓａｎｄｔｅｓｔｐｒｏｃｅｄｕｒｅｓ-
Ｆｉｂｅｒｇｅｏｍｅｔｒｙ，ＭＯＤ）
２００８-０４-１０发布 ２００８-１１-０１实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
目次
前言 Ⅰ
１ 范围 １
２ 规范性引用文件 １
３ 术语和定义 １
４ 测量方法概述 ２
５ 装置 ２
６ 试样 ３
７ 程序 ３
８ 计算 ３
９ 结果 ３
附录Ａ（规范性附录） 方法Ａ---折射近场法的特定要求 ４
附录Ｂ （规范性附录） 方法Ｂ---横向干涉法的特定要求 ７
附录Ｃ （规范性附录） 方法Ｃ---近场光分布法的特定要求 １０
附录Ｄ （规范性附录） 方法Ｄ---机械直径法的特定要求 １４
GB/T １５９７２．２０-２００８
前言
GB/T １５９７２《光纤试验方法规范》由若干部分组成，其预期结构及对应的国际标准和将代替的国家
标准为：
---第１０部分～第１９部分：测量方法和试验程序总则（对应IEC ６０７９３-１-１０至IEC ６０７９３-１-１９；
代替GB/T １５９７２．１-１９９８）；
---第２０部分～第２９部分：尺寸参数的测量方法和试验程序（对应IEC ６０７９３-１-２０至IEC ６０７９３-
１-２９；代替GB/T １５９７２．２-１９９８）；
---第３０部分～第３９部分：机械性能的测量方法和试验程序（对应IEC ６０７９３-１-３０至IEC ６０７９３-
１-３９；代替GB/T １５９７２．３-１９９８）；
---第４０部分～第４９部分：光学特性和传输特性的测量方法和试验程序（对应IEC ６０７９３-１-４０至
IEC ６０７９３-１-４９；代替GB/T １５９７２．４-１９９８）；
---第５０部分～第５９部分：环境性能的测量方法和试验程序（对应IEC ６０７９３-１-５０至IEC ６０７９３-
１-５９；代替GB/T １５９７２．５-１９９８）。
其中GB/T １５９７２．２×由以下部分组成：
---第２０部分：尺寸参数的测量方法和试验程序---光纤几何参数；
---第２１部分：尺寸参数的测量方法和试验程序---涂覆层几何参数；
---第２２部分：尺寸参数的测量方法和试验程序---长度。
本部分为 GB/T １５９７２的第２０部分。本部分修改采用国际电工技术委员会标准IEC ６０７９３-１-
２０：２００１，《光纤 第１-２０部分：测量方法和试验程序---光纤几何参数》。本部分与IEC ６０７９３-１-
２０：２００１主要差异如下：
---按照我国标准的编排格式和表述要求，对一些内容安排做了调整，第１章某些内容放在第４
章，删除了第５章和第１１章，将其内容分别放在第４章和第９章，其他章号重编；
---纠正了某些不恰当的叙述。
本部分代替GB/T １５９７２．２-１９９８《光纤总规范 第２部分：尺寸参数试验方法》的第５章、第６章
和第８章。
本部分与GB/T １５９７２．２-１９９８第５章、第６章和第８章相比主要变化如下：
---删除了“折射率剖面法”的提法，将其包括的试验方法直接作为本部分的两种试验方法：方法
Ａ：折射近场法，方法Ｂ：横向干涉法（１９９８年版的第５章；本版的附录Ａ、附录Ｂ）；
---修改了折射近场法对单模光纤聚焦光斑尺寸要求，光斑尺寸改为小于１．５μｍ（１９９８年版的第
５章；本版的附录Ａ中Ａ．２．２）；
---规定了光纤几何参数的基准试验方法（见本版的第４章）；
---对每一种试验方法的特定要求分别用附录的形式给出（１９９８年版的第５章、第６章、第８章；
本版的附录Ａ、附录Ｂ、附录Ｃ和附录Ｄ）。
本部分的附录Ａ、附录Ｂ、附录Ｃ和附录Ｄ为规范性附录。
本部分由中华人民共和国信息产业部提出。
本部分由中国通信标准化协会归口。
本部分起草单位：武汉邮电科学研究院。
本部分主要起草人：陈永诗、程淑玲、刘泽恒、吴金良。
本部分为第一次修订，它与GB/T １５９７２．２×其他部分一起代替GB/T １５９７２．２-１９９８。
GB/T １５９７２．２０-２００８
光纤试验方法规范
第２０部分：尺寸参数的测量方法和
试验程序---光纤几何参数
１ 范围
GB/T １５９７２的本部分规定了测量未涂覆光纤几何参数的试验方法，确立了测量的统一试验程序
和技术要求。
本部分适用于对Ａ类多模光纤和Ｂ类单模光纤的测量和成品光纤光缆的商业性检验。
２ 规范性引用文件
下列文件中的条款通过GB/T １５９７２的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文
件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成
协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本
部分。
GB/T １５９７２．１０-２００８ 光纤试验方法规范 第１０部分：测量方法和试验程序---总则
（IEC ６０７９３-１-１：２００２，Ｏｐｔｉｃａｌｆｉｂｒｅｓ-Ｐａｒｔ１-１：Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｍｅｔｈｏｄｓａｎｄｔｅｓｔｐｒｏｃｅｄｕｒｅｓ-Ｇｅｎｅｒａｌ
ａｎｄｇｕｉｄａｎｃｅ，ＭＯＤ）
３ 术语和定义
下列术语和定义适用于本部分。
３．１
基准面应在产品规范中规定，它可以是纤芯或包层的表面。
３．２
---Ｂ类光纤：近场剖面中心到包层中心的间距；
---Ａ类光纤：芯区中心到包层中心的间距。
３．３
多模光纤芯直径从折射率剖面确定，定义为在折射率剖面上通过芯区中心与折......