[PDF] GB/T 15972.40-2008 - 英文版

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GB/T 15972.40-2008 529 GB/T 15972.40-2008 <=4 光纤试验方法规范　第40部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序 - - 衰减
   
基本信息
标准编号 GB/T 15972.40-2008 (GB/T15972.40-2008)
中文名称 光纤试验方法规范　第40部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序 - - 衰减
英文名称 Specifications for optical fibre test methods -- Part 40: Measurement methods and test procedures for transmission and optical characteristics -- Attenuation
行业 国家标准 (推荐)
中标分类 M33
国际标准分类 33.180.10
字数估计 23,287
发布日期 2008-04-10
实施日期 2008-11-01
旧标准 (被替代) GB/T 15972.4-1998部分
引用标准 GB/T 15972.22-2008; GB/T 15972.43-2008; ITU-T G.651-1998
采用标准 IEC 60793-1-40-2001, MOD
标准依据 国家标准批准发布公告2008年第5号(总第118号)
发布机构 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
范围 GB/T 15972的本部分规定了光纤的衰减特性试验方法, 确立了对试验装置、注入条件、程序、计算方法和结果的统一要求。本部分适用于对A类多模光纤和B类单模光纤的测量和成品光纤光缆的商业性检验。

GB/T 15972.40-2008 ICS ３３．１８０．１０ M３３ 中华人民共和国国家标准 GB/T １５９７２．４０-２００８ 部分代替GB/T １５９７２．４-１９９８ 光纤试验方法规范 第４０部分：传输特性和光学特性的测量 方法和试验程序---衰减 （IEC ６０７９３-１-４０：２００１，Ｏｐｔｉｃａｌｆｉｂｒｅｓ-Ｐａｒｔ１-４０：Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｍｅｔｈｏｄｓ ａｎｄｔｅｓｔｐｒｏｃｅｄｕｒｅｓ-Ａｔｔｅｎｕａｔｉｏｎ，ＭＯＤ） ２００８-０４-１０发布 ２００８-１１-０１实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会发布 目次 前言 Ⅰ １　范围 １ ２　规范性引用文件 １ ３　术语和定义 １ ４　衰减特性的试验方法 ２ ５　装置 ３ ６　试样和试样制备 ３ ７　程序 ３ ８　计算 ３ ９　结果 ３ 附录Ａ（规范性附录）　方法Ａ---用截断法测量衰减的特定要求 ５ 附录Ｂ（规范性附录）　方法Ｂ---用插入损耗法测量衰减的特定要求 １０ 附录Ｃ（规范性附录）　方法Ｃ---用后向散射法测量衰减的特定要求 １２ 附录Ｄ（规范性附录）　方法Ｄ---谱衰减模型测量衰减的特定要求 １７ GB/T １５９７２．４０-２００８ 前言 GB/T １５９７２《光纤试验方法规范》由若干部分组成，其预期结构及对应的国际标准和将代替的国家 标准为： ---第１０部分～第１９部分：测量方法和试验程序总则（对应IEC ６０７９３-１-１０至IEC ６０７９３-１-１９； 代替GB/T １５９７２．１-１９９８）； ---第２０部分～第２９部分：尺寸参数的测量方法和试验程序（对应IEC ６０７９３-１-２０至IEC ６０７９３- １-２９；代替GB/T １５９７２．２-１９９８）； ---第３０部分～第３９部分：机械性能的测量方法和试验程序（对应IEC ６０７９３-１-３０至IEC ６０７９３- １-３９；代替GB/T １５９７２．３-１９９８）； ---第４０部分～第４９部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序（对应IEC ６０７９３-１-４０至 IEC ６０７９３-１-４９；代替GB/T １５９７２．４-１９９８）； ---第５０部分～第５９部分：环境性能的测量方法和试验程序（对应IEC ６０７９３-１-５０至IEC ６０７９３- １-５９；代替GB/T １５９７２．５-１９９８）。 其中GB/T １５９７２．４×由以下部分组成： ---第４０部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序---衰减； ---第４１部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序---带宽； ---第４２部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序---波长色散； ---第４３部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序---数值孔径； ---第４４部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序---截止波长； ---第４５部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序---模场直径； ---第４６部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序---透光率变化； ---第４７部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序---宏弯损耗； ---第４８部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序---偏振模色散； ---第４９部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序---微分模时延。 本部分为GB/T １５９７２的第４０部分。本部分修改采用国际电工技术委员会标准IEC ６０７９３-１-４０： ２００１《光纤　第１-４０部分：测量方法和试验程序---衰减》。本部分与IEC ６０７９３-１-４０：２００１主要差异 如下： ---按照我国标准的编排格式和表述要求，对一些内容安排做了调整，第１章某些内容放在第４ 章，删除了第４章、第５章和第１１章，将其内容分别放在第４章和第９章，其他章号重编； ---纠正了附录Ａ中表Ａ．１里滤模器芯轴直径单位的错误，将μｍ改为ｍｍ； ---Ａ．２．３．２几何光注入中增加了“ＩＴＵ-ＴＧ．６５１采用２６μｍ光斑直径和０．１１的数值孔径”的 规定。 本部分代替GB/T １５９７２．４-１９９８《光纤总规范　第４部分：传输特性和光学特性试验方法》第４章。 本部分与GB/T １５９７２．４-１９９８第４章相比主要变化如下： ---原正文中对每一种试验方法的详细描述分别用附录的形式给出（见附录Ａ、附录Ｂ、附录Ｃ和 附录Ｄ）； ---截断法Ａ１类多模光纤的注入条件中增加了“表Ａ．１芯轴直径实例”（见Ａ．１．３．１．２）； ---截断法中增加了Ａ２类、Ａ３类和 Ａ４类突变型折射率分布多模光纤的注入装置和注入条件 （见Ａ．１．４）； GB/T １５９７２．４０-２００８ ---截断法中增加了波长应校准至±１０ｎｍ内的要求（见Ａ．１．５）； ---相关内容的叙述做了一些修改。 本部分的附录Ａ、附录Ｂ、附录Ｃ和附录Ｄ为规范性附录。 本部分由中华人民共和国信息产业部提出。 本部分由中国通信标准化协会归口。 本部分起草单位：武汉邮电科学研究院。 本部分主要起草人：陈永诗、程淑玲、刘泽恒、吴金良。 本部分为第一次修订，它与GB/T １５９７２．４×其他部分一起代替GB/T １５９７２．４-１９９８。 GB/T １５９７２．４０-２００８ 光纤试验方法规范 第４０部分：传输特性和光学特性的测量 方法和试验程序---衰减 １　范围 GB/T １５９７２的本部分规定了光纤的衰减特性试验方法，确立了对试验装置、注入条件、程序、计算 方法和结果的统一要求。 本部分适用于对Ａ类多模光纤和Ｂ类单模光纤的测量和成品光纤光缆的商业性检验。 ２　规范性引用文件 下列文件中的条款通过GB/T １５９７２的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文 件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成 协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本 部分。 GB/T １５９７２．２２-２００８　光纤试验方法规范　第２２部分：尺寸参数的测量方法和试验程序---长 度（IEC ６０７９３-１-２２：２００１，Ｏｐｔｉｃａｌｆｉｂｒｅｓ-Ｐａｒｔ１-２２：Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｍｅｔｈｏｄｓａｎｄｔｅｓｔｐｒｏｃｅｄｕｒｅｓ- ＬｅｎｇｔｈｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔＭＯＤ） GB/T １５９７２．４３-２００８　光纤试验方法规范　第４３部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程 序---数值孔径（IEC ６０７９３-１-４３：２００１，Ｏｐｔｉｃａｌｆｉｂｒｅｓ-Ｐａｒｔ１-４３：Ｍｅａｓｕｒｅｍｅｎｔｍｅｔｈｏｄｓａｎｄｔｅｓｔｐｒｏｃｅ- ｄｕｒｅｓ-Ｎｕｍｅｒｒｉｃａｌａｐｅｒｔｕｒｅ，ＭＯＤ） ＩＴＵ-ＴＧ．６５１：１９９８　５０／１２５μｍ多模渐变型折射率光纤光缆特性 ３　术语和定义 下列术语和定义适用于GB/T １５９７２的本部分。 ３．１ 一段光纤上，相距L的两个横截面１和２之间在波长λ处的衰减A（λ）定义为： A（λ）......