[PDF] GB/T 17444-1998 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| GB/T 17444-1998 | 799 | GB/T 17444-1998 | <=5 | 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 17444-1998 (GB/T17444-1998) |
| 中文名称 | 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范 |
| 英文名称 | The technical norms for measurement and test of characteristic parameters of infrared focal plane arrays |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | L52 |
| 国际标准分类 | 31.26 |
| 字数估计 | 20,210 |
| 发布日期 | 7/18/1998 |
| 实施日期 | 5/1/1999 |
| 标准依据 | National Standards Bulletin 2013 No. 22 |
| 发布机构 | 国家质量技术监督局 |
| 范围 | 本标准所指的焦平面, 是敏感红外辐照(以下简称辐照)的光敏阵列并带有读出电路的器件。本标准对焦平面特性参数及相关量进行了定义。本标准给出了焦平面主要特性参数的测试方法及测试条件。本标准适用于线列和面阵焦平面。 |
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