[PDF] GB/T 19403.1-2003 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| GB/T 19403.1-2003 | 504 | GB/T 19403.1-2003 | <=4 | 半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检(不包括混合电路) |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 19403.1-2003 (GB/T19403.1-2003) |
| 中文名称 | 半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检(不包括混合电路) |
| 英文名称 | Semiconductor devices -- Integrated Circuits -- Part 11: Section 1: Internal visual examination for semiconductor integrated circuit (excluding hybrid circuits) |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | L56 |
| 国际标准分类 | 31.200 |
| 字数估计 | 22,282 |
| 发布日期 | 2003-11-24 |
| 实施日期 | 2004-08-01 |
| 采用标准 | IEC 60748-11-1-1992, IDT |
| 标准依据 | China Announcement of Newly Approved National Standards No. 1, 2004 (No. 63 overall) |
| 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 |
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