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[PDF] GB/T 19954.2-2016 - 自动发货. 英文版

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GB/T 19954.2-2016 150 GB/T 19954.2-2016 9秒内发货PDF 电磁兼容 专业用途的音频、视频、音视频和娱乐场所灯光控制设备的产品类标准第2部分:抗扰度
基本信息
标准编号 GB/T 19954.2-2016 (GB/T19954.2-2016)
中文名称 电磁兼容 专业用途的音频、视频、音视频和娱乐场所灯光控制设备的产品类标准第2部分:抗扰度
英文名称 Electromagnetic compatibility - Product family standard for audio, video, audio-visual and entertainment lighting control apparatus for professional use - Part 2: Immunity
行业 国家标准 (推荐)
中标分类 M74
国际标准分类 33.160.20
字数估计 29,250
发布日期 2005-10-10
实施日期 2017-03-01
旧标准 (被替代) GB/T 19954.2-2005
标准依据 国家标准公告2016年第14号
发布机构 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会

GB/T 19954.2-2016 Electromagnetic compatibility - Product family standard for audio, video, audio-visual and entertainment lighting control apparatus for professional use - Part 2: Immunity ICS 33.160.20 M74 中华人民共和国国家标准 代替GB/T 19954.2-2005 电磁兼容 专业用途的音频、视频、音视频 和娱乐场所灯光控制设备的产品类标准 第2部分:抗扰度 2016-08-29发布 2017-03-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会发布 目次 前言 Ⅲ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 2 4 电磁环境 3 5 骚扰现象 3 6 抗扰度要求 3 7 测试条件 7 7.1 性能判据 7 7.2 概述 7 7.3 端口 8 7.4 部件 8 7.5 机架和机柜 8 8 买方/用户文件 8 8.1 需要提供给买方/用户的文件 8 8.2 买方/用户要求时可得到的文件 8 附录A(规范性附录) 50Hz~10kHz辐射磁场抗扰度测量方法 9 附录B(规范性附录) 音频共模抗扰度的测试方法 13 附录C(资料性附录) 用于露天传输的远红外辐射设备 18 附录D(资料性附录) 专业音频、视频、音视频和娱乐灯光控制设备抗扰度测试试验指南 19 附录E(资料性附录) 关于本标准的背景信息 23 参考文献 24 前言 GB/T 19954《电磁兼容 专业用途的音频、视频、音视频和娱乐场所灯光控制设备的产品类标准》 包括以下两部分: ---第1部分:发射; ---第2部分:抗扰度。 本部分为GB/T 19954的第2部分。 本部分按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。 本部分代替GB/T 19954.2-2005《电磁兼容 专业用途的音频、视频、音视频和娱乐场所灯光控制 设备的产品类标准 第2部分:抗扰度》。 本部分与GB/T 19954.2-2005相比主要变化如下: ---第3章增加了屏蔽电缆端口的定义; ---调整了第6章抗扰度要求、第7章测试条件、第8章买方/用户文件3个章节在本部分的位置, 并相应调整各章节号; ---第8章买方/用户文件中增加了制造商应声明的一些内容; ---修改了附录B中BP1类型端口共模抗扰度的校准及测试方法; ---增加了附录D抗扰度测试中客观评价的性能指标。 本部分由中国电子科技集团公司第三研究所提出。 本部分由全国无线电干扰标准化技术委员会(SAC/TC79)归口。 本部分起草单位:中国电子科技集团公司第三研究所、中国质量认证中心、南京容向测试设备有限 公司。 本部分主要起草人:朱琳、丁少华、沈学其、林京平、徐嵬、郭小琪。 本部分所代替标准的历次版本发布情况为: ---GB/T 19954.2-2005。 电磁兼容 专业用途的音频、视频、音视频 和娱乐场所灯光控制设备的产品类标准 第2部分:抗扰度 1 范围 GB/T 19554的本部分规定了设备的抗扰度测试要求、测试信号、性能判据和测试方法,涉及对连 续和瞬态的传导和辐射电磁干扰的抗扰度,包括静电放电。这些要求为必要的电磁兼容性要求。 本部分适用于在第3章定义的专业音频、视频、音视频设备及娱乐场所灯光控制设备和第4章中描 述的电磁环境中使用的设备,包括3.5定义的专业数字设备和7.4定义的部件。 本部分规定的骚扰信号频率范围为0Hz~400GHz,但并未对整个频段作出要求。 附录C提供了波长0.7μm~1.6μm的红外发射装置的有关资料。 本部分未考虑骚扰源或受干扰设备故障的条件。 3.4、3.5和3.6中定义的设备可运行在任何电源形式下,这些供电电源包括: ---公共低压电网; ---具有类似特征的独立电网; ---用于特定设备的直流电源; ---设备内置的电池; ---备用发电机。 本部分中引用的一些标准可能不适用于独立低压电网。 注:特殊情况下,例如,设备附近有正在使用的手提式发射机,除规定的限值外,可进行额外的测量以便提高设备的 电磁抗扰度。 本部分不适用于: ---消费类电子产品; ---特殊设计的安保系统设备; ---设计用于无线通信的发射设备。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T 4365 电工术语 电磁兼容 GB/T 9383 声音和电视广播接收机及有关设备抗扰度 限值和测量方法 GB/T 12060.3 声系统设备 第3部分:声频放大器测量方法 GB 17625.1 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB/T 17626.2 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验 GB/T 17626.3 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验 GB/T 17626.4 电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验 GB/T 17626.5 电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验 GB/T 17626.6-2008 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度 GB/T 17626.11 电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 GB 17799.4 电磁兼容 通用标准 工业环境中的发射 GB/Z 18039.1-2000 电磁兼容 环境 电磁环境的分类 evisionpictures) ITU-R562-3 声音质量的主观评价 10C部分 音频 声频特性 广播信号(Subjectiveassess- 3 术语和定义 GB/T 4365界定的以及下列术语和定义适用于本文件。 3.1 设备或系统在其电磁环境中能够正常工作且不对该环境中任何事物构成不能承受的电磁骚扰的能力。 [GB/T 4365-2003,161-01-07] 3.2 端口 port 在电磁环境中指定设备的特殊界面(见图1)。 图1 端口举例 3.3 壳体端口 enclosureport 电磁场穿透设备辐射或侵入的物理边界。 3.4 用于商业、专业或工业且不打算出售给普通公众的设备。 3.5 为控制音频、视频、音视频或娱乐灯光特性而设计的,依靠周期性的电子脉冲波型,或者用数字形式 处理音频、视频或照明控制信号的专业设备。 3.6 能够产生电子控制信号,用于控制照明装置灯光的亮度、色彩、状态或方向,在戏剧、电视或音乐作 品和视觉效果方面创造出不同的艺术效果的专业设备。 3.7 屏蔽电缆端口 screened-cableport 用于带低阻抗编织网屏蔽层的电缆直接端接在电缆与机箱之间的金属机箱设备上的信号、控制或 直流电源端口。使用的连接器应能够在屏蔽层和机箱之间提供360°的完整连接,或至少在连接器接口 周围分布4个连接点。 注:本定义不允许电缆屏蔽层单点接地,也不允许机箱与屏蔽层通过任何能够提供阻抗的元件连接。 3.8 功能性地端口 functionalearthport 任何没有标记为保护地端子的单导体接地端子。 4 电磁环境 第6章规定了以下5种电磁环境(对应表1中E1~E5)中的限值要求。受试设备应符合其中一组 或多组限值要求。制造商有责任为其产品选择合适的限值(见7.1)。 E1 居住环境(包括GB/Z 18039.1-2000所述的1类和2类场所); E2 商业和轻工业环境(如剧院和非专业的电视演播室); E3 城市户外环境(依据GB/Z 18039.1-2000的第6类场所的定义); E4 电磁兼容受控环境(如演播室或摄影棚)和乡村户外环境(远离铁路、发射机、高架电力线等); 注1:受控的电磁兼容环境是指安装了电磁兼容特殊设计的建筑并且有电磁兼容经验的技术人员支持的环境。 E5 重工业(见GB 17799.4)和靠近广播发射机的环境。 注2:在一些特殊情况下,可能会出现骚扰电平超过本部分规定的试验电平的情况。例如,安装在靠近GB 4824中 规定的ISM设备处的电器或者在靠近电气设备处使用手持式发射机。在这些情况下,可能需要采取专门的 减缓措施。 5 骚扰现象 本部分对下列骚扰现象规定抗扰度要求(见表1)。 1 射频电磁场; 2 静电放电; 3 磁场; 注:有两种测试,使用均匀场(3a)和非均匀场(3b)。这项非均匀场测试专门用于测量实际作用于设备机柜外表面 的磁场和检测不良屏蔽的抗扰度。 4 电快速瞬变脉冲群,共模; 5 音频共模; 6 射频共模; 7 浪涌,线-线和线-地; 8 电压跌落; 9 电压中断。 6 抗扰度要求 包括在本部分范围内的设备在单独的额定电源下应当符合本部分的要求。在第1章中列出了一些 电源的例子。 抗扰度要求见表1。 7 测试条件 7.1 性能判据 本部分范围涉及的设备种类繁多,使得在抗扰度试验结论中的判据很难精确规定,由于抗扰度性能 不好而可能引起的设备性能降级的特征指南在附录D中给出。 采用本部分中规定的测试后,设备不应具有危险性或变得不安全。 基于下列判据,制造商应提供每一项测试过程中或结束后性能降级或功能丧失的细节,这些应记录 在测试报告中。 性能判据A:设备应连续正常工作。当设备正常工作时,不允许出现低于由制造商规定的性能等级 的降级或功能丧失。性能等级可以由所允许的性能损失描述。如果制造商没有规定最低的性能等级或 允许的性能损失,那么这些信息可以从产品描述或产品文件(包括宣传单或广告)以及用户正常使用时 的合理需求中推测出来。 性能判据B:设备应在试验后按预期正常工作。当设备按预期工作的时候,不允许出现低于由制造 商规定的性能等级的降级或功能丧失。性能等级可以由所允许的性能损失描述。然而,测试过程中,性 能降级是允许的。实际的操作状态或数据存储的改变是不允许的。如果制造商没有规定最低的性能等 级或允许的性能损失,那么这些信息可以从产品描述或产品文件(包括宣传单或广告)以及用户正常使 用时的合理需求中推测出来。 性能判据C:允许出现暂时的功能丧失,当去除骚扰后,受试设备的正常功能能够自动恢复,或能够 通过控制操作恢复。 允许制造商按照ITU-R500-4或ITU-R562-3中定义的五级损伤等级来规定性能损失。 注:实例和更详细的信息见附录D。 7.2 概述 本部分中,试验要求在可重现的试验室条件下进行,但是可重现的试验室条件不可能总是精确的代 表实际使用条件。 考虑具体设备的电特性和用途,某些测试是不必要的。在这种情况下,要求将不进行测试的结论记 录在测试报告中。 依据制造商的使用说明,受试设备应在被评价的骚扰现象中最敏感的操作模式下进行测试,应调整 受试设备以获得最敏感布置。 如果设备是系统的一部分,或者可以连接辅助设备,那么设备在进行试验时应连接维持其运行所需 的最少数量的辅助设备。 如果制造商的技术规范特别要求外部保护装置或措施,并在用户手册中做出明确规定,则按本部分 的要求试验时,要有适当的外部保护装置或措施。 试验期间的试验布置和操作模式都应精确地记录在试验报告中。设备的每一项功能未必都能进行 试验,在这种情况下,要选择最严酷的操作模式进行试验。在试验过程中,要选择能够使受试设备所有 的正常操作模式都运行的测试程序和软件。允许使用特殊的测试软件,使受试设备在正常工作模式下 能全面运行。 对于每一种类型的骚扰,测试应当是在确定的和可重现的条件下进行。应当逐项地进行测试,测试 顺序是任意的。针对每一骚扰现象的每一项或系列测试,应在规定环境条件(包括设备正常工作所规定 的环境条件和额定的供电电压)范围内的同一条件下进行,除非本部分和相关标准另有规定。 注1:测试方法和骚扰源参照表1中给出的适用标准。实际用于测量的任何必需的更改和附加信息由本部分规定。 音频干扰电压应采用具有准峰值检波的仪表和IEC 60268-1中规定的噪声加权测量,除非制造商 在规格书中说明这些电压是作为用分贝表示的A计权值或A计权电平(见IEC 60268-1)。 注2:这两种测量方法依据电压波形的不同在数值上有所不同,差异范围用分贝表示,从近似0dB~14dB,甚至 更高。 如果磁场或信号/控制端口的共模骚扰在受试设备有效频率范围内,可能造成受试设备的额定输出 电平超过本部分规定的检测电平,应该调整受试设备的控制钮,或者选择受试设备的操作方式,使其避 免过载情况(如果可能)的出现,并且要求制造商对设置或选择的模式声明。如果这种设置或选择的模 式不可实现,制造商应声明设备有必要采取特殊的防范措施减少所施加的相关骚扰电平;还要声明设备 所能承受的最高的骚扰电平,并且说明在最高电平条件下设备的性能,或者性能降级的情况。 7.3 端口 根据表1,应在设备相关的端口上进行测试。应仅对存在的相应端口实施测试。如果设备具有大 量的端口或具有许多类似的连接端口,就应当选择足够数量的端口来模拟实际的操作状态,并且确定所 有不同类型的终端都包括在内。 互连电缆应该是设备规定的类型。制造商应当指定最长电缆的长度。如果合理,那么应使用这个 长度的电缆进行测试。 如果有多个同类型的端口,如果附加电缆不明显地影响测试结果,那么在同类型的端口上连接一条 就可以。重要的是当使用任何模拟器来取代实际端口设备时,其应能够代表端口设备的电气和机械特 性,尤其是射频信号和阻抗方面。 7.4 部件 如果设备包括带连接器而且能移动的部件,应尽量移动部件使其处于最敏感状态。仅使用制造商 规定的或未禁止的布置。 预期安装在机架内的部件应当以制造商规定的方法安装在机架内进行测试。机架应由制造商指定 并应与典型的部件组装在一起。 对于上述类型的部件,按此方法进行了测试并满足本部分相关要求,且制造商单独提供了文件声明 部件的测试条件,应被视为符合本部分要求。 7.5 机架和机柜 符合本部分的设备组合装入一个机架或机柜时,无需提出额外要求或测试。 8 买方/用户文件 8.1 需要提供给买方/用户的文件 制造商应声明设备达到合格和预定使用的环境。应告知买方/用户为了符合本部分要求所采取的 特殊措施;例如,使用屏蔽或者是特殊的电缆以及最小化外部磁场影响的敏感设备的位置。性能降级或 性能损失的允许程度在第6章中给出。 对于具有一个或多个屏蔽电缆接口的设备,文档中应注明这些接口,并声明它们通过编织网屏蔽层 电缆建立连接,这种端接方式能够在设备机箱和电缆屏蔽层之间提供低阻抗的连接;且任何被使用的连 接器应有金属外壳。 8.2 买方/用户要求时可得到的文件 应当列出符合本部分抗扰度要求时与设备相连的辅助设备、连接器和电缆的清单。 附 录 A (规范性附录) 50Hz~10kHz辐射磁场抗扰度测量方法 A.1 目的 本测试的目的是检验受试设备承受辐射磁场的能力。根据A.2中定义的场的分类,本附录中描述 了3种方法:在A.3和A.4中描述的方法,用于均匀场,适用于不安装在机柜中的设备;在A.5中描述的 第3种方法,用于非均匀场测试,适用于安装在机柜中或靠近其他设备使用的设备。 A.2 名词解释 下列名词适用于本附录: 均匀场---在规定的空间区域内(比如一个直径0.7m的球体)幅度和方向都充分一致的场。 伪均匀场---在规定的空间区域内幅度充分一致的场。 非均匀场---幅度和方向随距离的变化而变化的场。 A.3 使用亥姆霍兹线圈的均匀场测试方法 本测试方法适用于主体尺寸≤0.7m且非安装机柜的设备。 A.3.1 测试设备 测试设备应满足以下要求: a) 信号源:信号源可以为线圈提供足够的电流,而不是临界满足。 b) 两个辐射线圈要满足下列规定(容差±5%),见图A.1。 1) 尺寸:1.25m×1.25m,相距0.75m; 2) 匝数:每个线圈50匝; 3) 线:直径1.25mm铜漆包线; 4) 磁场强度:在线圈中心连线的中点,场强为0.976NI(A/m),其中N 是单个线圈的匝数, I(A)是线上电流。 c) 音频电流表。 注:经过校准的不同规格的亥姆霍兹线圈都可以被使用,受试设备置于均匀场中。 A.3.2 测试布置 将受试设备中心放在两个线圈中心连线的中点上。 A.3.3 测试程序 测试程序如下: a) 应根据所研究的现象为设备提供实际使用时的信号(并不是简化的测试信号,见7.1和 GB 17625.1)。 b) 受试设备的测量。 按如下规定选择测试频率和定位设备: 1) 将受试设备置于线圈之间。 2) 为线圈提供足够的电流以产生表1中规定的磁场强度水平。 3) 根据受试设备的工作特点,在每10倍量程上选择3个频点或者采用连续扫频的方法扫描适用 的频段。在每个频率/频段旋转受试设备,并且记录每个性能下降点的频率。 对于由3)确定的每个频率和方位,验证这些性能下降点与制造商列出的性能降级水平一致性(见 7.1)。 A.4 使用大辐射线圈的伪均匀场测试方法 这种方法适用于受试设备太大而不能放在亥姆霍兹线圈中进行测试的设备,例如,对于主体尺寸大 于0.7m的设备将无法适用于A.3.1所描述的线圈。本方法应用于不安装在机柜中的设备。 A.4.1 测试设备 测试设备满足以下要求: a) 信号源:信号源可以为线圈提供足够的电流,而不是临界满足。 b) 辐射线圈要满足下列规定(容差±5%)。 1) 直径:0.5m; 2) 匝数:20(每一层); 3) 线:直径1.0mm铜漆包线; 4) 磁场强度:距离线圈中心0.1m处,场强为32I(A/m),其中I(A)是线上电流。 c) 音频电流表。 A.4.2 测试布置 将受试设备置于距离线圈中心0.1m±0.005m处。 A.4.3 测试程序 测试程序如下: a) 应根据所研究的现象为设备提供实际使用时的信号(并不是简化的测试信号,见7.1和 GB 17625.1)。 b) 受试设备的测量。 按如下规定选择测试频率和移动线圈: 1) 将辐射线圈置于距离受试设备一个外表面0.1m±0.005m处。线圈的平面应该平行于受试 设备的外表面。 2) 为线圈提供足够的电流以产生表1中规定的磁场强度水平。 3) 根据受试设备的工作特点,在每10倍量程上选择3个频点或者采用连续扫频的方法扫描适用 的频段。在每个频率/频段旋转受试设备,并且记录每个性能下降点的频率。 4) 在每测完受试设备的一面后,调换线圈位置,重复3)以确定性能下降点的位置和频率。 对于由4)确定的每个频率和位置,验证这些性能下降点与制......