[PDF] GB/T 20724-2006 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| GB/T 20724-2006 | 319 | GB/T 20724-2006 | <=3 | 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 20724-2006 (GB/T20724-2006) |
| 中文名称 | 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法 |
| 英文名称 | Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | N53 |
| 国际标准分类 | 71.040.99 |
| 字数估计 | 7,796 |
| 发布日期 | 2006-12-25 |
| 实施日期 | 2007-08-01 |
| 引用标准 | GB/T 18907-2002 |
| 标准依据 | 中国国家标准批准发布公告 2006年第13号(总第100号) |
| 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
| 范围 | 本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体厚度的会聚束电子衍射方法。本方法适用于测定线度为10^-^9m～0.1×10^-^3m、厚度在几十至几百纳米范围的薄晶体厚度。 |
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