[PDF] GB/T 21227-2007 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| GB/T 21227-2007 | 559 | GB/T 21227-2007 | <=3 | 交流损耗测量 Cu/Nb-Ti多丝复合线磁滞损耗的磁强计测量法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 21227-2007 (GB/T21227-2007) |
| 中文名称 | 交流损耗测量 Cu/Nb-Ti多丝复合线磁滞损耗的磁强计测量法 |
| 英文名称 | AC loss measurements -- Magnetometer methods for hysteresis loss in Cu/Nb-Ti multifilamentary composites |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | H21 |
| 国际标准分类 | 17.220.20 |
| 字数估计 | 14,112 |
| 发布日期 | 2007-11-14 |
| 实施日期 | 2008-05-01 |
| 采用标准 | IEC 61788-13-2003, IDT |
| 标准依据 | 中国国家标准批准发布公告2007年第12号（总第112号） |
| 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
| 范围 | 本标准描述了运用直流或低扫场速率磁强计方法对Cu/Nb-Ti多丝复合线磁滞损耗进行测量的相关事宜。本标准所针对的是Cu/Nb-Ti多丝复合导体中磁滞损耗的测量。测量应在4.2 K或 4.2 K附近的温度下针对圆形线进行。直流或低扫场速率磁强计法使用的是超导里子干涉器件（SQUID）磁强计或振动样品磁强计（VSM）。如果测里中发现用不同的（但均校准过的）磁强计所得的结果存在差异, 则以VSM在外推至零扫场速率下测量的结果为准。 |
GB/T 21227-2007
ICS １７．２２０．２０
H２１
中华人民共和国国家标准
GB/T ２１２２７-２００７／IEC ６１７８８-１３：２００３
磁滞损耗的磁强计测量法
（IEC ６１７８８-１３：２００３，ＩＤＴ）
２００７-１１-１４发布
２００８-０５-０１实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
目次
前言 Ⅲ
引言 Ⅳ
１ 范围 １
２ 规范性引用文件 １
３ 术语和定义 １
４ 要求 ３
５ ＶＳＭ测量方法 ４
６ 测试报告 ５
附录Ａ（资料性附录） ＳＱＵＩＤ测量方法 ７
参考文献 ８
GB/T ２１２２７-２００７／IEC ６１７８８-１３：２００３
前言
本标准等同采用IEC ６１７８８-１３：２００３《交流损耗的测量 Ｃｕ／Ｎｂ-Ｔｉ多丝复合线磁滞损耗的磁强计
测量法》。
本标准对IEC ６１７８８-１３：２００３个别条目中出现的编辑性错误做了修改。
本标准的附录Ａ为资料性附录。
本标准由国家超导技术联合研究开发中心和全国超导标准化技术委员会提出。
本标准由全国超导标准化技术委员会归口。
本标准负责起草单位：中国科学院物理研究所。
本标准参加起草单位：南京大学、中国科学技术大学、北京有色金属研究总院、西北有色金属研究
院、中国科学院电工研究所。
本标准主要起草人：郑东宁、丁世英、曹烈兆、华崇远、汪京荣、林良真。
本标准为首次发布。
GB/T ２１２２７-２００７／IEC ６１７８８-１３：２００３
引 言
国际电工委员会超导技术委员会（IEC/T Ｃ９０）提出用磁强计和探测线圈方法来测定Ｃｕ／Ｎｂ-Ｔｉ复
合超导线在随时间变化的横向磁场中的交流损耗。这是为了使横向磁场中（也是测量中常见的构型）交
流损耗各影响因子的测量标准化而做出的初始努力。
经讨论，决定将上述提议拆分为两个文件，分别涵盖两种标准方法。其中之一用于描述磁滞损耗和
在低频磁场（或低扫场速率）下总交流损耗的磁强计测量法，另一个用于描述在较高频磁场（或较高扫场
速率）下总交流损耗的探测线圈测量法。磁强计法测量频率范围为０Ｈｚ～０．０６Ｈｚ，探测线圈法测量频
率范围为０．００５Ｈｚ～１Ｈｚ。重叠部分（０．００５Ｈｚ～０．０６Ｈｚ）是两种方法都可用的频率范围。
本标准所涉及的是磁强计测量法。
GB/T ２１２２７-２００７／IEC ６１７８８-１３：２００３
磁滞损耗的磁强计测量法
１ 范围
本标准描述了运用直流或低扫场速率磁强计方法对Ｃｕ／Ｎｂ-Ｔｉ多丝复合线磁滞损耗进行测量的相
关事宜。本标准所针对的是Ｃｕ／Ｎｂ-Ｔｉ多丝复合导体中磁滞损耗的测量。测量应在４．２Ｋ或４．２Ｋ附
近的温度下针对圆形线进行。直流或低扫场速率磁强计法使用的是超导量子干涉器件（ＳＱＵＩＤ）磁强
计或振动样品磁强计（ＶＳＭ）。如果测量中发现用不同的（但均校准过的）磁强计所得的结果存在差异，
则以ＶＳＭ在外推至零扫场速率下测量的结果为准。
２ 规范性引用文件
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有
的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究
是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。
GB/T １３８１１-２００３ 电工术语 超导电性（IEC ６００５０-８１５：２０００，ＭＯＤ）
IEC ６１７８８-５ 超导电性 第５部分：基-超体积比测定 Ｃｕ／Ｎｂ-Ｔｉ复合超导体的铜-超体积比
３ 术语和定义
GB/T １３８１１-２００３ 确立的以及下列术语和定义适用于本标准。
３．１
因随时间变化的磁场或电流，复合超导体中损耗的功率。
［GB/T １３８１１-２００３中８１５-０４-５４条］
注：每个磁场周期中的交流损耗指定为Q。虽然从一般意义上来说，所有这种损耗都不可避免地是“磁滞性”，但超
导复合材料中的损耗常常划分为磁滞型、涡流型以及耦合型损耗，定义见GB/T １３８１１-２００３中８１５-０４-５４条的
注１和注２。
３．２
Pｈ
超导体在变化磁场中出现的一种损耗，其每一周期内的损耗值和频率无关。
注：磁滞损耗由磁通钉扎导致超导材料的不可逆磁性所引起。
［GB/T １３８１１-２００３中８１５-０４-５５条］
注：磁滞损耗仅......