路径: 主页 > GB/T > 第527页 > GB/T 21636-2008 | 标准编号 | GB/T 21636-2008 (GB/T21636-2008) | | 中文名称 | 微束分析 电子探针显微分析(EPMA) 术语 | | 英文名称 | Microbeam analysis -- Electron Probe Micro Analysis (EPMA) -- Vocabulary | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | G04 | | 国际标准分类 | 01.040.71; 71.040.99 | | 字数估计 | 39,380 | | 发布日期 | 2008-04-11 | | 实施日期 | 2008-10-01 | | 采用标准 | ISO 23833-2006, IDT | | 标准依据 | 国家标准批准发布公告2008年第5号(总第118号) | | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | | 范围 | 本标准定义了电子探针显微分析（EPmA）实践中使用的术语, 包括一般概念的术语和按技术等级分类的具体概念的术语。本标准适用于所有有关电子探针分析（EPmA）实践的标准化文件, 部分使用于相关领域[例如：扫描电子显微镜(SEm), 分析电子显微镜(AEm), X射线能谱仪等]的标准化文件, 用于定义共用的术语。 | GB/T 21636-2008
Microbeam analysis.Electron Probe Micro Analysis (EPMA).Vocabulary
ICS ０１．０４０．７１；７１．０４０．９９
G０４
中华人民共和国国家标准
GB/T ２１６３６-２００８／ISO ２３８３３：２００６
微束分析
电子探针显微分析（EPMA） 术语
（ISO ２３８３３：２００６，ＩＤＴ）
２００８-０４-１１发布
２００８-１０-０１实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
前言
本标准等同采用国际标准ISO ２３８３３：２００６《微束分析 电子探针显微分析 （ＥＰＭＡ） 术语》
（英文版）。
为了便于使用，本标准做了下列编辑性修改：
---５．７．５的注中对ISO ２３８３３：２００６勘误将“Z＞４３”改为 “Z＞４”；
---删除了法文版。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口。
本标准起草单位：全国微束分析标准化技术委员会。
本标准主要起草人：林卓然、李香庭、李戎、朱衍勇、庄世杰、柳得橹。
GB/T ２１６３６-２００８／ISO ２３８３３：２００６
引 言
电子探针显微分析（ＥＰＭＡ）是微束分析技术中一个应用极为广泛的领域，是在高技术产业、基础工
业、农业、冶金、地质、生物、医药卫生、环境保护、商检贸易乃至刑事法庭等行业中需要通过各种材料或
产品的微米尺度成分和结构分析来进行质量管理和质量检验所不可缺少的技术手段。
电子探针显微分析（ＥＰＭＡ）是一门综合性的技术，涉及物理、化学、电子学等广泛术语。本标准只
限于定义电子探针显微分析（ＥＰＭＡ）标准化实践中使用和直接有关的术语，其内容包括：
电子探针显微分析用一般术语定义；
描述电子探针显微分析仪器的术语定义；
用于电子探针显微分析方法的术语定义。
本标准是微束分析技术领域中为了适应电子探针显微分析（ＥＰＭＡ）标准化实践的基本需要而制定
的第一个术语标准。扫描电子显微镜（ＳＥＭ），分析电子显微镜（ＡＥＭ），Ｘ射线能谱仪（ＥＤＳ）等其他领
域的术语标准也会相继制定。
GB/T ２１６３６-２００８／ISO ２３８３３：２００６
微束分析
电子探针显微分析（EPMA） 术语
１ 范围
本标准定义了电子探针显微分析（ＥＰＭＡ）实践中使用的术语，包括一般概念的术语和按技术等级
分类的具体概念的术语。
本标准适用于所有有关电子探针显微分析（ＥＰＭＡ）实践的标准化文件，部分适用于相关领域［例如：
扫描电子显微镜（ＳＥＭ），分析电子显微镜（ＡＥＭ），Ｘ射线能谱仪等］的标准化文件，用于定义共用的术语。
２ 缩略语
ＢＳＥ ｂａｃｋｓｃａｔｔｅｒｅｄｅｌｅｃｔｒｏｎ 背散射电子
ＣＲＭ ｃｅｒｔｉｆｉｅｄｒｅｆｅｒｅｎｃｅｍａｔｅｒｉａｌ 有证参考物质、标准样品
ＥＤＳ ｅｎｅｒｇｙｄｉｓｐｅｒｓｉｖｅｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｅｒ 能谱仪
ＥＤＸ ｅｎｅｒｇｙｄｉｓｐｅｒｓｉｖｅＸ-ｒａｙｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙ 能谱法
ＥＰＭＡ ｅｌｅｃｔｒｏｎｐｒｏｂｅｍｉｃｒｏａｎａｌｙｓｉｓｏｒｅｌｅｃｔｒｏｎｐｒｏｂｅｍｉ-
ｃｒｏａｎａｌｙｚｅｒ
电子探针显微分析或电子探针显微
分析仪
ｅＶ ｅｌｅｃｔｒｏｎｖｏｌｔ 电子伏特
ｋｅＶ ｋｉｌｏｅｌｅｃｔｒｏｎｖｏｌｔ 千电子伏特
ＳＥ ｓｅｃｏｎｄａｒｙｅｌｅｃｔｒｏｎ 二次电子
ＳＥＭ ｓｃａｎｎｉｎｇｅｌｅｃｔｒｏｎｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ 扫描电子显微镜
ＷＤＳ ｗａｖｅｌｅｎｇｔｈｄｉｓｐｅｒｓｉｖｅｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｅｒ 波谱仪
ＷＤＸ ｗａｖｅｌｅｎｇｔｈｄｉｓｐｅｒｓｉｖｅＸ-ｒａｙｓｐｅｃｔｒｏｍｅｔｒｙ 波谱法
３ 电子探针显微分析用一般术语定义
３．１
根据聚焦电子束与试样微米至亚微米尺度的体积相互作用激发Ｘ射线的谱学原理，对电子激发体
积内的元素进行分析的技术。
３．１．１
通过标识Ｘ射线谱峰的方法来鉴别试样电子激发体积中元素组成的电子探针显微分析方法。
３．１．２
对电子束激发区定性分析所鉴定的元素进行浓度测定的电子探针显微分析方法。
注：定量分析可以在相同条件下，对测量的未知试样Ｘ射线强度与标样的Ｘ射线强度相比较完成，或者根据基本原
理计算浓度，后者也称为无标样分析。
......
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