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| 标准编号 | GB/T 22181.5-2015 (GB/T22181.5-2015) | | 中文名称 | 等离子体显示器件 第5部分:总规范 | | 英文名称 | Plasma display panels -- Part 5: Generic specification | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | L47 | | 国际标准分类 | 31.12 | | 字数估计 | 25,219 | | 发布日期 | 2015-06-02 | | 实施日期 | 2016-02-01 | | 旧标准 (被替代) | GB/T 11482-1989 | | 标准依据 | 国家标准公告2015年第19号 | | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
GB/T 22181.5-2015
Plasma display panels - Part 5: Generic specification
ICS 31.120
L47
中华人民共和国国家标准
代替GB/T 11482-1989
等离子体显示器件
第5部分:总规范
2015-06-02发布
2016-02-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
目次
前言 Ⅲ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语、定义、单位、符号和缩略语 2
3.1 术语和定义 2
3.2 单位、符号和缩略语 3
4 总则 3
4.1 优先顺序 3
4.2 标准大气条件 3
4.3 标志 4
4.4 质量评定类别 4
4.5 筛选 4
4.6 操作 4
5 质量评定程序 5
5.1 总则 5
5.2 鉴定批准和/或能力批准的资格 5
5.3 初始制造阶段 5
5.4 商业保密信息 5
5.5 检验批的构成 5
5.6 结构相似器件 5
5.7 零部件 5
5.8 交货放行的有效性 5
5.9 鉴定批准试验 5
5.10 鉴定批准的授予 6
5.11 质量一致性检验 6
5.12 统计抽样程序 9
5.13 耐久性试验 9
5.14 规定失效率的耐久性试验 9
5.15 加速试验程序 10
5.16 能力批准程序 10
6 试验和测量程序 10
6.1 标准条件和一般预防措施 10
6.2 物理检查 11
6.3 电学、光学和显示性能测量 11
6.4 气候和机械试验 11
6.5 替代试验方法 11
6.6 耐久性试验 11
附录A(规范性附录) 批允许不合格品率(LTPD)抽样方案 12
附录B(资料性附录) 规范的基本描述 18
表A.1 LTPD抽样方案 13
表A.2 等于或小于200的小批量超几何抽样方案 15
表A.3 AQL和LTPD抽样方案 17
前言
GB/T 22181《等离子体显示器件》的预计结构如下:
---第1部分:术语与文字符号(GB/T 22181.1-2008);
---第2-1部分:光学参数测量方法(GB/T 22181.21-2008);
---第2-2部分:光电参数测量方法(GB/T 22181.22-2008);
---第2-3部分:模块显示质量测量方法(GB/T 22181.23-2012);
---第2-4部分:数字电视机用器件特性测量方法;
---第3-1部分:机械接口;
---第3-2部分:电子接口;
---第4部分:气候和机械试验方法;
---第6部分:数字电视机用等离子体显示器件空白详细规范。
本部分是GB/T 22181的第5部分。
本部分按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本部分代替 GB/T 11482-1989《交流等离子体显示器件总规范(可供认证用)》。本部分与
GB/T 11482-1989相比,除编辑性修改外,主要技术性变化如下:
---增加了术语:平均显示亮度、平均图像电平、色域覆盖率、高灰度色域覆盖率、低灰度色域覆盖
率、平均功耗、视角、亮度视角、对比度视角、色度视角、动态图像分辨率、图像条纹、闪烁和噪
声,及其定义(见3.1);
---增加了质量评定类别、筛选和操作等内容(见4.4、4.5和4.6);
---在质量评定程序中,修改了检验分组的划分,增加了简化检验的补充程序和LTPD抽样方案
(见5.11.2、5.11.4和5.12.2);
---试验项目和试验方法采用GB/T 22181.21-2008、GB/T 22181.22-2008、GB/T 22181.23-
2012和SJ/T 11379-2008标准中规定的项目和方法;
---增加了附录A[批允许不合格品率(LTPD)抽样方案]和附录B(规范的基本描述)。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本部分由中国电子技术标准化研究院归口。
本部分起草单位:四川虹欧显示器件有限公司、西安交通大学、四川长虹电器股份有限公司。
本部分主要起草人:邓新群、胡文波、王平松、赵晓东、王丽雯、黄长戈、唐礼。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
---GB/T 11482-1989。
等离子体显示器件
第5部分:总规范
1 范围
GB/T 22181的本部分是等离子体显示器件的总规范。它规定了IEC Q-CECC体系质量评定的通
用程序,并规定了电学、光学、图像显示、机械及环境性能描述和测试的通用要求。
本部分适用于等离子体显示器件。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 2828.1-2012 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样
计划
GB/T 4728(所有部分) 电气简图用图形符号
GB/T 22181.1-2008 等离子体显示器件 第1部分:术语与文字符号(IEC 61988-1:2003,IDT)
GB/T 22181.21-2008 等离子体显示器件 第2-1部分:光学参数测量方法(IEC 61988-2-1:
2002,IDT)
GB/T 22181.22-2008 等离子体显示器件 第2-2部分:光电参数测量方法(IEC 61988-2-2:
2003,IDT)
GB/T 22181.23-2012 等离子体显示器件 第2-3部分:模块显示质量测量方法
SJ/T 11378-2008 等离子体显示器件 第3-1部分:机械接口......
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