[PDF] GB/T 22319.8-2008 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| GB/T 22319.8-2008 | 134 | GB/T 22319.8-2008 | <=3 | 石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 22319.8-2008 (GB/T22319.8-2008) |
| 中文名称 | 石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具 |
| 英文名称 | Measurement of quartz crystal unit parameters -- Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | L21 |
| 国际标准分类 | 31.140 |
| 字数估计 | 7,764 |
| 发布日期 | 2008-08-06 |
| 实施日期 | 2009-01-01 |
| 引用标准 | IEC 60444-1-1986; IEC 60444-2-1980; IEC 60444-5-1995; IEC 61240-1994 |
| 采用标准 | IEC 60444-8-2003, IDT |
| 标准依据 | 国家标准批准发布公告2008年第14号(总第127号) |
| 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
| 范围 | GB/T 22319的本部分规定了能精确测量无引线表面贴装石英晶体元件的谐振频率、谐振电阻及等效电路参数的测量夹具, 测量方法采用IEC 60444-4-1988和IEC 60444-5-1995规定的零相位技术。使用该测量夹具的等效电路和适用的频率范围见随后条款。此外, 本部分也适用于IEC 61240-1994中的无引线晶体元件外壳。测量夹具的等效电路和电参数都基于IEC 60444-1-1986和IEC 60444-4-1988。负载电容范围为10pF或更高。本部分还规定了测量系统和CL片的校准。本部分 |
GB/T 22319.8-2008
Measurement of quartz crystal unit parameters.Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units
ICS ３１．１４０
L２１
中华人民共和国国家标准
GB/T ２２３１９．８-２００８／IEC ６０４４４-８：２００３
石英晶体元件参数的测量
第８部分：表面贴装石英晶体元件
用测量夹具
（IEC ６０４４４-８：２００３，ＩＤＴ）
２００８-０８-０６发布
２００９-０１-０１实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
前言
GB/T ２２３１９《石英晶体元件参数的测量》分为如下几部分：
---第１部分：用π型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法；
---第２部分：测量石英晶体元件动态电路的相位偏置法；
---第３部分：利用有并电容C０ 补偿的π型网络相位法测量频率达２００ＭＨｚ的石英晶体元件两
端网络参数的基本方法；
---第４部分：频率达３０ＭＨｚ石英晶体元件负载谐振频率和负载谐振电阻RＬ 的测量方法及其他
导出参数的计算；
---第５部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法；
---第６部分：激励电平相关性（ＤＬＤ）的测量；
---第７部分：石英晶体元件活力和频率降的测量；
---第８部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具；
---第９部分：石英晶体元件寄生谐振的测量。
本部分为GB/T ２２３１９的第８部分。
本部分等同采用IEC ６０４４４-８：２００３《石英晶体元件参数的测量 第８部分：表面贴装石英晶体元件
用测量夹具》（英文版）。
为便于使用，本部分作了下列编辑性修改：
ａ） 删除国际标准的前言；
ｂ） 删除国际标准的引言；
ｃ） 将本部分的各图集中到正文最后；
ｄ） 将原文６．１第二段中“５０±５％”改为“５０×（１±５％）Ω”。
本部分由中华人民共和国信息产业部提出。
本部分由全国频率控制和选择用压电器件标委会归口。
本部分起草单位：中国电子元件行业协会压电晶体分会。
本部分主要起草人：章怡、姜连生。
GB/T ２２３１９．８-２００８／IEC ６０４４４-８：２００３
石英晶体元件参数的测量
第８部分：表面贴装石英晶体元件
用测量夹具
１ 范围
GB/T ２２３１９的本部分规定了能精确测量无引线表面贴装石英晶体元件的谐振频率、谐振电阻及
等效电路参数的测量夹具，测量方法采用IEC ６０４４４-４：１９８８和IEC ６０４４４-５：１９９５规定的零相位技术。
使用该测量夹具的等效电路和适用的频率范围见随后条款。
此外，本部分也适用于IEC ６１２４０：１９９４中的无引线晶体元件外壳。测量夹具的等效电路和电参数
都基于IEC ６０４４４-１：１９８６和IEC ６０４４４-４：１９８８。负载电容范围为１０ｐＦ或更高。本部分还规定了测
量系统和CＬ 片的校准。
本部分适用于能准确测量石英晶体元件的谐振频率、谐振电阻、并电容C０、动态电容C１ 和动态电
感L１ 的测量夹具，其频率范围为１ＭＨｚ～１５０ＭＨｚ，采用基于IEC ６０４４４-５：１９９５的自动网络分析仪。
２ 规范性引用文件
下列文件中的条款通过GB/T ２２３１９的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文
件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成
协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本
部分。
IEC ６０４４４-１：１９８６ 采用π网络零相位技术测量石英晶体元件参数 第１部分：采用π网络零相
位技术测量石英晶体谐振频率和谐振电阻的基本方法
IEC ６０４４４-２：１９８０ 采用π网络零相位技术测量石英晶体元件参数 第２部分：用相位偏置法测
量石英晶体元件的动态电容
IEC ６０４４４-５：１９９５ 石英晶体元件参数的测量 第５部分：采用自动网络分析技术和误差校正确
定等效电参数的方法
IEC ６１２４０：１９９４ 压电器件 频率控制和选择用表面贴装器件（ＳＭＤ）外形制图 总则
３ 总则
用于测量谐振频率、谐振电阻和等效电路参数的测量夹具和测量方法必须由晶体元件的供应商和
用户在合同中规定。对无引线晶体元件要予以特殊考虑。
４ 无引线表面贴装石英晶体元件
４．１ 外壳
外壳类型无特殊规定时，建议使用IEC ６１２４０：１９９４所示图样。
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