路径: 主页 > GB/T > 第527页 > GB/T 25184-2010 | 标准编号 | GB/T 25184-2010 (GB/T25184-2010) | | 中文名称 | X射线光电子能谱仪检定方法 | | 英文名称 | Verification method for X-ray photoelectron spectrometers | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | G04 | | 国际标准分类 | 71.040.40 | | 字数估计 | 26,271 | | 发布日期 | 2010-09-26 | | 实施日期 | 2011-08-01 | | 引用标准 | GB/T 19500-2004; GB/T 21006-2007; GB/T 22461-2008; GB/T 20175-2006; GB/T 22571-2008; GB/T 25185-2010; ISO 15470-1999; ISO 18116; ISO 18118-2004; ISO 18516-2006; ISO 19319; ISO 24237 | | 标准依据 | 国家标准批准发布公告2010年第6号(总第161号) | | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | | 范围 | 本标准规定了X射线光电子能谱仪的检定方法;本标准适用于使用非单色化Al或Mg X射线或单色化Al X射线, 且带有溅射清洁用离子枪的X射线光电子能谱仪的检定; | GB/T 25184-2010
Verification method for X-ray photoelectron spectrometers
ICS 71.040.40
G04
中华人民共和国国家标准
X射线光电子能谱仪检定方法
2010-09-26发布
2011-08-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
目次
前言 Ⅰ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 符号和缩略语 1
4 方法原理与系统构成 3
5 计量单位与技术指标 4
6 检定环境 5
7 检定项目与方法 5
8 报告检定结果 22
9 检定周期 22
前言
本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会表面分析分委员会归口。
本标准负责起草单位:福建光电有限公司、厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室。
本标准主要起草人:王水菊、时海燕、丁训民。
X射线光电子能谱仪检定方法
1 范围
本标准规定了X射线光电子能谱仪的检定方法。本标准适用于使用非单色化Al或 MgX射线或
单色化AlX射线,且带有溅射清洁用离子枪的X射线光电子能谱仪的检定。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的,凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用本文件。
GB/T 19500-2004 X射线光电子能谱分析方法通则
GB/T 21006-2007 表面化学分析 X射线光电子能谱仪和俄歇电子能谱仪 强度标的线性
(ISO 21270:2004,IDT)
GB/T 22461-2008 表面化学分析 词汇(ISO 18115:2001,IDT)
GB/T 20175-2006 表面化学分析 溅射深度剖析 用层状膜系为参考物质的优化方法
(ISO 14606:2000,IDT)
GB/T 22571-2008 表面化学分析 X射线光电子能谱仪 能量标尺的校准(ISO 15472:2001,
IDT)
GB/T 25185-2010 表面化学分析 X射线光电子能谱 荷电控制和荷电校正方法的报告
(ISO 19318:2004,IDT)
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