[PDF] GB/T 26071-2018 - 英文版

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GB/T 26071-2018 199 GB/T 26071-2018 <=3 太阳能电池用硅单晶片
   
基本信息
标准编号 GB/T 26071-2018 (GB/T26071-2018)
中文名称 太阳能电池用硅单晶片
英文名称 Monocrystalline silicon wafers for solar cells
行业 国家标准 (推荐)
中标分类 H82
国际标准分类 29.045
字数估计 10,160
发布日期 2018-09-17
实施日期 2019-06-01
旧标准 (被替代) GB/T 26071-2010
发布机构 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

GB/T 26071-2018 Monocrystalline silicon wafers for solar cells ICS 29.045 H82 中华人民共和国国家标准 代替GB/T 26071-2010 太阳能电池用硅单晶片 2018-09-17发布 2019-06-01实施 国 家 市 场 监 督 管 理 总 局 中国国家标准化管理委员会 发 布 前言 本标准按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。 本标准代替GB/T 26071-2010《太阳能电池用硅单晶切割片》。与GB/T 26071-2010相比,主要 技术变化如下: ---将标准名称《太阳能电池用硅单晶切割片》修改为《太阳能电池用硅单晶片》(见封面,2010年 版的封面); ---修改了范围中本标准适用性的描述(见第1章,2010年版的第1章); ---修改了电阻率测定引用标准,GB/T 1551替代了GB/T 1552(见第2章,2010年版的第2章); ---增加引用标准GB/T 6619、GB/T 14844、GB/T 30859、GB/T 30860、GB/T 30869和YS/T 28 (见第2章,2010年版的第2章); ---删除了线痕的定义(见2010年版3.1); ---增加了产品牌号的表示方法(见4.1); ---将产品分类中“按外形可分为准方形和圆形两种”修改为“按外形可分为准方形和方形两种”, 标准中删除了圆形分类及其要求,增加了方形(见4.2.2,2010年版的4.1); ---产品尺寸由“准方形硅片按其边长分为125mm×125mm、156mm×156mm”修改为“准方形 硅片按其边长分为100.75mm、125.75mm、156Ⅰ、156Ⅱ、156Ⅲ、161.75mm、210.75mm”(见 4.2.2,2010年版的4.2); ---删除了圆形硅片的尺寸,增加了“方形硅片按其尺寸可分为100.75 mm、125.75 mm、 156.75mm、210.75mm”的要求(见4.2.2,2010年版的4.2); ---增加了理化性能,即“硅片的晶体完整性、氧含量和碳含量应符合GB/T 25076的规定。如有 需要,由供方提供各项检验结果”(见5.1); ---增加了硅片厚度“130±15、140±15、150±15、170±20”相对应的要求;删除了硅片厚度“220± 20、240±20”相对应的要求;修改了翘曲度指标要求(见5.2.1,2010年版的4.3.1); ---修改了准方形硅片尺寸的要求(见5.2.2,2010年版的4.3.2); ---增加了方形硅片尺寸的要求(见5.2.3); ---删除了“硅片的导电类型、掺杂剂、少数载流子寿命和晶体完整性应符合GB/T 25076的规定” (见2010年版的4.3.3.1); ---电学性能参数中的电阻率范围下限由0.5Ω·cm改为P型0.2Ω·cm,N型0.1Ω·cm(见 5.3.2,2010年版的4.3.3.2); ---修改了晶向偏离度的要求(见5.4,2010年版的4.3.4); ---修改了硅片线痕深度、崩边、缺口的要求(见5.5,2010年版的4.3.5); ---修改了导电类型和晶向的检查水平(见表6,2010年版的表6)。 本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC203)与全国半导体设备和材料标准 化技术委员会材料分会(SAC/TC203/SC2)共同提出并归口。 本标准起草单位:浙江省硅材料质量检验中心、有研半导体材料有限公司、泰州隆基乐叶光伏科技 有限公司、苏州协鑫光伏科技有限公司、隆基绿能科技股份有限公司、内蒙古中环光伏材料有限公司、宜 昌南玻硅材料有限公司、有色金属技术经济研究院。 本标准主要起草人:楼春兰、毛卫中、邹剑秋、汪新华、孙燕、杨素心、刘培东、宫龙飞、邓浩、李建弘、 徐博、许国华、张军。 本标准所代替标准的历次版本发布情况为: ---GB/T 26071-2010。 太阳能电池用硅单晶片 1 范围 本标准规定了太阳能电池用硅单晶片(简称硅片)的牌号及分类、要求、试验方法、检验规则、标志、 包装、运输、贮存、质量证明书和订货单(或合同)内容等。 本标准适用于由直拉法制备的硅单晶加工成的准方形或方形硅片,产品用于制作太阳能电池的衬 底片。 2 规范性引用文件 下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文 件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。 GB/T 1550 非本征半导体材料导电类型测试方法 GB/T 1551 硅单晶电阻率测定方法 GB/T 1555 半导体单晶晶向测定方法 GB/T 2828.1-2012 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样 计划 GB/T 6616 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测试方法 非接触涡流法 GB/T 6618 硅片厚度和总厚度变化测试方法 GB/T 6619 硅片弯曲度测试方法 GB/T 6620 硅片翘曲度非接触式测试方法 GB/T 11073 硅片径向电阻率变化的测量方法 GB/T 14140 硅片直径测量方法 GB/T 14264 半导体材料术语 GB/T 14844 半导体材料牌号表示方法 GB/T 25076 太阳能电池用硅单晶 GB/T 26068 硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方......

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