[PDF] GB/T 42709.2-2026 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| GB/T 42709.2-2026 | RFQ | 点击询价 | <=3 | 半导体器件 微电子机械器件 第2部分：薄膜材料拉伸试验方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 42709.2-2026 (GB/T42709.2-2026) |
| 中文名称 | 半导体器件 微电子机械器件 第2部分：薄膜材料拉伸试验方法 |
| 英文名称 | Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 2: Tensile testing method of thin film materials |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | L40 |
| 国际标准分类 | 31.200 |
| 发布日期 | 2026-04-30 |
| 实施日期 | 2026-11-01 |
| 发布机构 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 |
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