路径: 主页 > GB/T > 第237页 > GB/T 42848-2023 | 标准编号 | GB/T 42848-2023 (GB/T42848-2023) | | 中文名称 | 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法 | | 英文名称 | Semiconductor integrated circuits - Test method of direct digital frequency synthesizer | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | L56 | | 国际标准分类 | 31.200 | | 字数估计 | 34,380 | | 发布日期 | 2023-08-06 | | 实施日期 | 2023-12-01 | | 发布机构 | 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会 | GB/T 42848-2023: 半导体集成电路 直接数字频率合成器测试方法
ICS 31.200
CCSL56
中华人民共和国国家标准
半导体集成电路
直接数字频率合成器测试方法
2023-08-06发布
2023-12-01实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布
目次
前言 Ⅲ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 总则 3
4.1 测试环境 3
4.2 测试注意事项 3
4.3 相关文件 3
5 静态参数 3
5.1 逻辑输入高电平电压VIH 3
5.2 逻辑输入低电平电压VIL 4
5.3 逻辑输出高电平电压VOH 5
5.4 逻辑输出低电平电压VOL 6
5.5 逻辑输入高电平电流IIH 7
5.6 逻辑输入低电平电流IIL 8
5.7 增益误差EG 8
5.8 积分非线性INL 10
5.9 微分非线性DNL 11
5.10 满幅输出电流IFS 12
5.11 输出失调电流IOO 13
5.12 电压适应范围VDAC 13
5.13 时钟输入偏置电压Vb 14
6 动态参数测试 15
6.1 建立时间tSU 15
6.2 保持时间tH 15
6.3 输出电容CO 15
6.4 时钟输入频率fREFCLK 16
6.5 时钟输入幅度VREFCLK 17
6.6 输出宽带无杂散动态范围SFDRW 18
6.7 输出窄带无杂散动态范围SFDRN 19
6.8 通道隔离度ISO CH 20
6.9 通道间输出幅度匹配误差ΔACH 22
6.10 通道间相位差ΔPCH 22
6.11 相位噪声 23
6.12 噪声功率谱密度 24
6.13 功耗PW 25
6.14 电源电流ICC 27
前言
本文件按照GB/T 1.1-2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定
起草。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本文件由全国半导体器件标准化技术委员会(SAC/TC78)归口。
本文件起草单位:成都振芯科技股份有限公司、中国电子技术标准化研究院。
本文件主要起草人:何善亮、蒲佳、杨阳、刘纪祖、范超、吴淼、王可、李锟。
半导体集成电路
直接数字频率合成器测试方法
1 范围
本文件规定了半导体集成电路中直接数字频率合成器(以下简称“器件”)电特性的通用测试方法。
本文件适用于单通道及多通道直接数字频率合成器电路的测试。
2 规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文
件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于
本文件。
GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路
3 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1
满幅输出电流 ful-scaleoutputcurrent
IFS
配置模拟输出端为满幅输出时的输出电流。
3.2
增益误差 gainerror
EG
对于电压或电流输出型的器件,器件转换电压或电流实际输出范围与理想输出范围之间的偏差。
3.3
ΔACH
多通道器件各输出通道在相同的输入幅度配置下,输出幅度间的最大偏差绝对值与各通道中最小
输出幅度值的百分比。
3.4
输出失调电流 ......
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