[PDF] GB/T 43034.2-2024 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| GB/T 43034.2-2024 | 484 | GB/T 43034.2-2024 | <=4 | 集成电路 脉冲抗扰度测量 第2部分: 同步瞬态注入法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 43034.2-2024 (GB/T43034.2-2024) |
| 中文名称 | 集成电路 脉冲抗扰度测量 第2部分: 同步瞬态注入法 |
| 英文名称 | Integrated circuits - Measurement of impulse immunity - Part 2: Synchronous transient injection method |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | L56 |
| 国际标准分类 | 31.200 |
| 字数估计 | 24,289 |
| 发布日期 | 2024-10-26 |
| 实施日期 | 2024-10-26 |
| 发布机构 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 |
GB/T 43034.2-2024: 集成电路 脉冲抗扰度测量 第2部分: 同步瞬态注入法
ICS 31.200
CCSL56
中华人民共和国国家标准
集成电路 脉冲抗扰度测量
第2部分:同步瞬态注入法
(IEC TS62215-2:2007,IDT)
2024-10-26发布
2024-10-26实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布
目次
前言 Ⅲ
引言 Ⅳ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 总则 2
4.1 概述 2
4.2 测量原理 2
4.3 布置原则 3
4.4 响应信号 3
4.5 耦合网络 3
4.6 试验电路板 7
4.7 IC的特殊要求 7
5 试验条件 8
5.1 默认试验条件 8
5.2 试验布置的脉冲抗扰度 8
6 试验布置 8
6.1 概述 8
6.2 试验设备 9
6.3 试验布置说明 9
6.4 信号关系说明 10
6.5 测量次数和时间步长的计算 10
6.6 试验程序 11
6.7 监测检查 11
6.8 系统确认 11
7 试验报告 11
7.1 通则 11
7.2 抗扰度限值或等级 12
7.3 性能分级 12
7.4 试验结果的说明和比较 12
附录A(资料性) 微控制器中所用软件的流程图 13
附录B(资料性) 试验布置控制软件(总线控制程序)的流程图 14
附录C(资料性) 试验板要求 15
参考文献 18
前言
本文件按照GB/T 1.1-2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定
起草。
本文件是GB/T 43034《集成电路 脉冲抗扰度测量》的第2部分。GB/T 43034已经发布了以下
部分:
---第2部分:同步瞬态注入法;
---第3部分:非同步瞬态注入法。
本文件等同采用IEC TS62215-2:2007《集成电路 脉冲抗扰度测量 第2部分:同步瞬态注入
法》,文件类型由IEC 的技术规范调整为我国的国家标准。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本文件由全国集成电路标准化技术委员会(SAC/TC599)归口。
本文件起草单位:中国电子技术标准化研究院、深圳市北测标准技术服务有限公司、安徽中认倍佳
科技有限公司、工业和信息化部电子第五研究所、厦门海诺达科学仪器有限公司、天津先进技术研究院、
北京智芯微电子科技有限公司、苏州泰思特电子科技有限公司、南京容测检测技术有限公司、浙江诺益
科技有限公司、扬芯科技(深圳)有限公司、国家无线电监测中心检测中心、中国家用电器研究院、中国信
息通信研究院、南京师范大学、东莞职业技术学院。
本文件主要起草人:付君、崔强、方文啸、吴建飞、张海峰、张艳艳、莫国延、李旸、梁吉明、胡小军、
邢立文、郑益民、杨红波、董奇峰、熊宇飞、颜伟、褚瑞、康志能、魏海红、陈梅双。
引 言
为规范集成电路脉冲抗扰度测量,以及为集成电路制造商和检测机构提供脉冲抗扰度测量方
法,GB/T 43034规定了集成电路脉冲抗扰度测量的通用条件、定义和不同注入测量方法的试验程序和
试验要求,拟由2个部分构成。
---第2部分:同步瞬态注入法。目的在于规定同步瞬态注入法的试验程序和试验要求。
---第3部分:非同步瞬态注入法。目的在于规定非同步瞬态注入法的试验程序和试验要求。
集成电路 脉冲抗扰度测量
第2部分:同步瞬态注入法
1 范围
本文件给出了评价集成电路(IC)对快速传导同步瞬态骚扰抗扰度试验方法的通用信息和定义。
这些信息包括试验条件、试验设备、试验布置、试验程序和试验报告的内容要求。
本文件的目的是描述通过建立相同的试验环境获得IC抗扰度的定量度量的通用条件,同时也描述
了预期会影响试验结果的关键参数。与本文件的偏离需在试验报告中明确地注明。
本文件给出的同步瞬态抗扰度测量方法是使用具有不同幅值、持续时间和极性的,上升时间快速的
短脉冲以传导的方式耦合给IC。在本方法中,施加的脉冲需与IC的功能运行同步,目的是确保可控的
和可复现的条件。
2 规范性引用文件
本文件没有规范性引用文件。
3 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1
辅助设备 auxiliaryequipment;AE
对于暴露在骚扰中的受试器件(DUT)全部功能的建立和正确性能(操作)进行判定所必需的非受
试设备。
3.2
耦合网络 couplingnetwork
具有规定阻抗和传输特性已知的电路,用于将能量从一个电路传输到另一个电路。
3.3
受试器件 deviceundertest;DUT
被评估的器件、设备或系统。
注:......