[PDF] GB/T 4377-1996 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| GB/T 4377-1996 | 679 | GB/T 4377-1996 | <=4 | 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 4377-1996 (GB/T4377-1996) |
| 中文名称 | 半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 |
| 英文名称 | Semiconductor integrated circuits. General principles of measuring methods of voltage regulator |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | L56 |
| 国际标准分类 | 31.2 |
| 字数估计 | 17,169 |
| 发布日期 | 7/9/1996 |
| 实施日期 | 1/1/1997 |
| 旧标准 (被替代) | GB 4377-1984 |
| 引用标准 | GB 3431.1, |
| 发布机构 | 国家技术监督局 |
| 范围 | 本标准规定了半导体集成电路电压调整器(以下简称器件)电特性测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路电压调整器电特性的测试, 不适用于双端(单端口)器件。 |
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