[PDF] GB/T 5201-1994 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| GB/T 5201-1994 | 679 | GB/T 5201-1994 | <=5 | 带电粒子半导体探测器测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 5201-1994 (GB/T5201-1994) |
| 中文名称 | 带电粒子半导体探测器测试方法 |
| 英文名称 | Test procedures for semiconductor charged particle detectors |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | F80 |
| 国际标准分类 | 17.24 |
| 字数估计 | 17,192 |
| 发布日期 | 12/22/1994 |
| 实施日期 | 10/1/1995 |
| 旧标准 (被替代) | GB 5201-1985 |
| 标准依据 | 国家标准公告2012年第13号 |
| 发布机构 | 国家技术监督局 |
| 范围 | 本标准规定了带电粒子半导体探测器电特性和核辐射性能的测试方法以及某些特殊环境的试验方法。本标准适用于探测带电粒子的部分耗尽金硅面垒型、锂漂移金硅面垒型和表面钝化离子注入平面硅型等半导体探测器。全耗尽金硅面垒型探测器的某些性能测试也应参照本标准进行。 |
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