[PDF] GB/T 5252-2006 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| GB/T 5252-2006 | 359 | GB/T 5252-2006 | <=3 | 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 5252-2006 (GB/T5252-2006) |
| 中文名称 | 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法 |
| 英文名称 | Germanium monocrystal -- Inspection of dislocation etch pit density |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | H17 |
| 国际标准分类 | 77.040.01 |
| 字数估计 | 9,948 |
| 发布日期 | 2006-07-18 |
| 实施日期 | 2006-11-01 |
| 旧标准 (被替代) | GB/T 5252-1985 |
| 标准依据 | 国家标准批准发布公告2006年第8号(总第95号) |
| 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
| 范围 | 本标准适用于位错密度0cm-2～100 0000cm-2的n型和p型锗单晶棒或片的位错密度或其他缺陷的测量．观察面为(111)(100)(113)面。 |
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