[PDF] GB/T 5594.8-2015 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| GB/T 5594.8-2015 | 149 | GB/T 5594.8-2015 | <=3 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构测定方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/T 5594.8-2015 (GB/T5594.8-2015) |
| 中文名称 | 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构测定方法 |
| 英文名称 | Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device -- Part 8: Test method for microstructure |
| 行业 | 国家标准 (推荐) |
| 中标分类 | L90 |
| 国际标准分类 | 31-030 |
| 字数估计 | 7,758 |
| 发布日期 | 2015-05-15 |
| 实施日期 | 2016-01-01 |
| 旧标准 (被替代) | GB/T 5594.8-1985 |
| 引用标准 | GB/T 9530-1988 |
| 标准依据 | 国家标准公告2015年第15号 |
| 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 |
| 范围 | GB/T 5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶资显微结构的测定方法。本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶资显微结构的测定。本部分涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。 |
GB/T 5594.8-2015
Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device.Part 8:Test method for microstructure
ICS 31-030
L90
中华人民共和国国家标准
代替GB/T 5594.8-1985
电子元器件结构陶瓷材料
性能测试方法
第8部分:显微结构测定方法
2015-05-15发布
2016-01-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
前言
GB/T 5594《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法》分为以下部分:
---气密性测试方法(GB/T 5594.1);
---杨氏弹性模量 泊松比测试方法(GB/T 5594.2);
---第3部分:平均线膨胀系数测试方法(GB/T 5594.3);
---第4部分:介电常数和介质损耗角正切值的测试方法(GB/T 5594.4);
---体积电阻率测试方法(GB/T 5594.5);
---第6部分:化学稳定性测试方法(GB/T 5594.6);
---第7部分:透液性测定方法(GB/T 5594.7);
---第8部分:显微结构测定方法(GB/T 5594.8);
---电击穿强度测试方法(GB/T 5594.9)。
本部分为GB/T 5594的第8部分。
本部分按照GB/T 1.1-2009给出的规则起草。
本部分代替GB/T 5594.8-1985《电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 显微结构的测定》。
本部分与GB/T 5594.8-1985相比,主要有下列变化:
---标准名称改为:“电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分:显微结构测定方法;
---“3.1 显微结构”定义中,增加了晶界、相间物质、空间上的相互排列和组合关系等;
---“4 样品的制备”中,增加了“小尺寸样品,可以直接采用单面磨制”;
---“7 测试结果的综合表示”中,增加了部分显微结构照片,将晶粒大小放在前面。显微缺陷、
气孔数量、玻璃相等部分放在后面;
---删除了气孔、玻璃相含量等级表示方法(见GB/T 5594.8-1985中4.2.2、4.3)。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利,本文件的发布机构不承担识别这些专利的责任。
本部分由中华人民共和国信息工业和信息化部提出。
本部分由中国电子技术标准化研究院归口。
本部分起草单位:中国电子科技集团公司第十二研究所、中国电子技术标准化研究院、江苏常熟银
洋陶瓷器件有限公司。
本部分主要起草人:江树儒、曹易、高永泉、翟文斌。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
---GB/T 5594.8-1985。
电子元器件结构陶瓷材料
性能测试方法
第8部分:显微结构测定方法
1 范围
GB/T 5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显
微结构的测定方法。
本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。
本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。
2 规范性引用文件
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 9530-1988 电子陶瓷名词
3 术语和定义
GB/T 9530-1988界定的以及下列术语和定义适用于本文件。
3.1
显微结构 microstructure
晶相(主晶相、次晶相)、玻璃相、气相、晶界等的组成、形态、大小、数量、种类、分布、均匀度、缺陷、相
间物质等的在空间上的相互排列和组合关系。
3.2
晶相 crystalphase
在多相系统中由晶体构成的部分。
3.3
气孔 pore
存在于陶瓷体中的小孔。与大气连通的称开口气孔,封闭的称闭口气孔,包在晶粒内部的称晶内气
孔,处在晶粒之间的称晶间气孔。
3.4
玻璃相 glassphase
在多相系统中由玻璃态构成的部分。它是由主要组分、添加物和杂质等熔融后凝结而成。
4 样品......