[PDF] GBZ107-2025 - 中国标准 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| GB/Z 107-2025 | 319 | GB/Z 107-2025 | <=3 | 半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | GB/Z 107-2025 (GB/Z107-2025) |
| 中文名称 | 半导体器件 基于扫描的半导体器件退化水平评估 |
| 英文名称 | (Semiconductor devices - Scan based ageing level estimation for semiconductor devices) |
| 行业 | 国家标准 |
| 发布日期 | 2025-12-03 |
| 实施日期 | 2025-12-03 |
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