[PDF] JB/T 6174-1992 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| JB/T 6174-1992 | 199 | JB/T 6174-1992 | <=2 | 仪器仪表功能电路板老化工艺规范 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | JB/T 6174-1992 (JB/T6174-1992) |
| 中文名称 | 仪器仪表功能电路板老化工艺规范 |
| 英文名称 | Process specification for aging process of instrumentation PCB |
| 行业 | 机械行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | L30 |
| 国际标准分类 | 17.040.30 |
| 字数估计 | 4,475 |
| 发布日期 | 5/15/1992 |
| 实施日期 | 1/1/1993 |
| 采用标准 | MIL-STD-2164(EC), NEQ |
| 范围 | 本标准规定了仪器仪表功能电路板老化筛选的基本内容和要求。本标准适用于仪器仪表行业各类单回路调节器及各类数字化仪表的功能电路板的老化筛选。 |
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