[PDF] JB/T 7786-1995 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| JB/T 7786-1995 | 349 | JB/T 7786-1995 | <=3 | 电力半导体器件检验抽样方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | JB/T 7786-1995 (JB/T7786-1995) |
| 中文名称 | 电力半导体器件检验抽样方法 |
| 英文名称 | Sampling method for test of power semiconductor devices |
| 行业 | 机械行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | K46 |
| 字数估计 | 10,173 |
| 发布日期 | 1995-10-09 |
| 实施日期 | 1996-01-01 |
| 引用标准 | GB 2828; GB 2829; GB 4589.1 |
| 采用标准 | IEC 410, NEQ; IEC 747-10, NEQ; JIS C7210, NEQ |
| 范围 | 本标准规定了计数型一次抽样方案、追加抽样方案及抽样程序。本标准适用于电力半导体器件(包括模块、组件和附件)的出厂(或逐批)检验、型式(或周期)试验和交收检验。 |
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