[PDF] JB/T 8268-1999 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| JB/T 8268-1999 | 199 | JB/T 8268-1999 | <=2 | 静电复印感光体表面缺陷 测量方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | JB/T 8268-1999 (JB/T8268-1999) |
| 中文名称 | 静电复印感光体表面缺陷 测量方法 |
| 英文名称 | Standard test method for surface defect of photoconductor for electrostatic process |
| 行业 | 机械行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | N47 |
| 字数估计 | 5,565 |
| 发布日期 | 8/6/1999 |
| 实施日期 | 2000-01-01 |
| 旧标准 (被替代) | JB 8268-1995 |
| 引用标准 | GB 10999; GB 11001; ZBY 255; ZBY 256; ZBY 257; ZBN 47007 |
| 标准依据 | 工业和信息化部公告(2015年第28号); 工科(2010)第77号 |
| 范围 | 本标准规定了静电复印感光体表面缺陷的测量方法, 测量步骤、检验规则及试验报告的要求。本标准适用于静电复印感光体(硒鼓、硫化辐鼓、有机光导体鼓、无定形硅鼓, 氧化锌版等〕的外观质量及背景印迹检查, 对静电复印机用反射镜的表面缺陷检查亦应参照使用。 |
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