[PDF] SJ 20788-2000 - 中国标准 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| SJ 20788-2000 | 489 | SJ 20788-2000 | <=3 | 半导体二极管热阻抗测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ 20788-2000 (SJ20788-2000) |
| 中文名称 | 半导体二极管热阻抗测试方法 |
| 英文名称 | Measurment method for thermal impedance of semiconductor diodes |
| 行业 | 电子行业标准 |
| 中标分类 | L41 |
| 字数估计 | 14,117 |
| 发布日期 | 2000-10-20 |
| 实施日期 | 2000-10-20 |
| 引用标准 | GB 128A-97 |
| 范围 | 本标准规定了半导体二极管的稳态热阻和瞬态热阻抗的测试方法。本标准适用于整流二极管、瞬态电压抑制二极管、功率齐纳二极管和某些齐纳、信号和开关二极管稳态热阻和瞬态热阻扰的测试。 |
......