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[PDF] SJ 21343-2018 - 中国标准 英文版

标准搜索结果: 'SJ 21343-2018'
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SJ 21343-2018 199 SJ 21343-2018 <=3 微波元器件低温环境下S参数测试方法
基本信息
标准编号 SJ 21343-2018 (SJ21343-2018)
中文名称 微波元器件低温环境下S参数测试方法
英文名称 (S-parameter test method for microwave components in low temperature environment)
行业 电子行业标准
中标分类 L10
字数估计 8,842
发布机构 工业和信息化部

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英文网页English: SJ 21343-2018

相关标准: GB/T 26572|SJ/T 11920|SJ/T 11923|SJ/T 11919|