[PDF] SJ 3244.5-1989 - 中国标准 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| SJ 3244.5-1989 | 259 | SJ 3244.5-1989 | <=3 | 砷化镓和磷化铟材料补偿度的测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ 3244.5-1989 (SJ3244.5-1989) |
| 中文名称 | 砷化镓和磷化铟材料补偿度的测试方法 |
| 英文名称 | Methods of measurement for compensation degree of Gallium arsenide and Indium phosphide materias |
| 行业 | 电子行业标准 |
| 中标分类 | H83;L90 |
| 字数估计 | 7,774 |
| 发布日期 | 3/20/1989 |
| 实施日期 | 3/25/1989 |
| 范围 | 本标准规定了砷化镓和磷化铟材料确定补偿度的测量原理, 仪器设备、样品制备及测试分析方法。本标准适用于n型、P型砷化镓和磷化铟单晶及高阻衬底外延层, 载流子浓度在1×10^12~5×10^15cm^-3范围的半导体材料的补偿度的测试分析。原则上也适用于其他Ⅲ-V族化合物材料补偿度的测试分析。 |
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