[PDF] SJ/T 11461.5.3-2016 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| SJ/T 11461.5.3-2016 | 839 | SJ/T 11461.5.3-2016 | <=4 | 有机发光二极管显示器件 第5-3部分:残像和寿命的测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ/T 11461.5.3-2016 (SJ/T11461.5.3-2016) |
| 中文名称 | 有机发光二极管显示器件 第5-3部分:残像和寿命的测试方法 |
| 英文名称 | (Part 5-3 organic light emitting diode display device: Test methods and life afterimage) |
| 行业 | 电子行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | L47 |
| 字数估计 | 21,278 |
| 发布日期 | 2016-01-15 |
| 实施日期 | 2016-06-01 |
| 引用标准 | IEC 62341-5-3:2013, IDT |
| 采用标准 | IEC 62341-5-3:2013, IDT |
| 标准依据 | Ministry of Industry and Information Technology Bulletin 2016 No.3 |
| 发布机构 | 工业和信息化部 |
| 范围 | 本标准规定了OLED产品残像试验方法和寿命测试方法。标准的范围为OLED显示器的屏体和模组。残像试验方法充分考虑了不同应用情况的显示器的异同点，对残像的测试图形，以及残像最终的表示方法都有明确和科学的规定。寿命测试方法主要针对亮度衰减进行了相关规定，同时还通过附录的形式采用了加速衰减的方式并可通过公式去推算显示器的寿命。 |
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