[PDF] SJ/T 11820-2022 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| SJ/T 11820-2022 | 249 | SJ/T 11820-2022 | <=3 | 半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ/T 11820-2022 (SJ/T11820-2022) |
| 中文名称 | 半导体分立器件直流参数测试设备技术要求和测量方法 |
| 英文名称 | (Technical requirements and measurement methods for DC parameter test equipment of semiconductor discrete devices) |
| 行业 | 电子行业标准 (推荐) |
| 字数估计 | 10,139 |
| 发布日期 | 2022-09-30 |
| 实施日期 | 2023-01-01 |
| 发布机构 | 工业和信息化部 |
| 范围 | 本文件规定了半导体分立器件直流参数测试设备的术语和定义、技术要求、测量方法。适用于直流电压输出和直流电压测量范围不超过 0.01V～5000V，直流电流输出和直流电流测量范围不超过1nA～10A，脉冲电流输出和脉冲电流测量范围不超过 10A～1200A 的分立器件测试设备。 |
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