[PDF] SJ/T 12032-2025 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| SJ/T 12032-2025 | RFQ | 点击询价 | <=3 | 半导体器件 分立器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管电参数测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SJ/T 12032-2025 (SJ/T12032-2025) |
| 中文名称 | 半导体器件 分立器件 碳化硅金属氧化物半导体场效应晶体管电参数测试方法 |
| 英文名称 | (Semiconductor devices - Discrete components - Test method for electrical parameters of silicon carbide metal-oxide-semiconductor field-effect transistors) |
| 行业 | 电子行业标准 (推荐) |
| 发布日期 | 2025-09-09 |
| 实施日期 | 2026-03-01 |
| 发布机构 | 工业和信息化部 |
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