[PDF] SY/T 6414-1999 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| SY/T 6414-1999 | 239 | SY/T 6414-1999 | <=2 | 全岩光片显微组分测定方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | SY/T 6414-1999 (SY/T6414-1999) |
| 中文名称 | 全岩光片显微组分测定方法 |
| 英文名称 | Maceral analysis on polished surfaces of whole rocks |
| 行业 | 石油行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | E11 |
| 国际标准分类 | 75.02 |
| 字数估计 | 6,62 |
| 发布日期 | 5/17/1999 |
| 实施日期 | 12/1/1999 |
| 引用标准 | GB/T 6948-1986; GB/T 16773-1997 |
| 采用标准 | ISO 7404/3-94, NEQ |
| 标准依据 | 国家能源局公告2014年第11号 |
| 范围 | 本标准规定了在偏反光显微镜下, 用反射白光和反射荧光测定全岩光片显微组分体积分数的方法。本标准适用于暗色泥岩、碳酸盐岩和煤光片显微组分的测定。 |
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