[PDF] YD/T 3037.1-2023 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| YD/T 3037.1-2023 | RFQ | 点击询价 | <=3 | 通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分：终端 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | YD/T 3037.1-2023 (YD/T3037.1-2023) |
| 中文名称 | 通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性测试方法 第1部分：终端 |
| 英文名称 | (Test method for characteristics of mass storage interface between Universal Integrated Circuit Card (UICC) and terminal - Part 1: Terminal) |
| 行业 | 邮电行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | M36 |
| 发布日期 | 2023-12-20 |
| 实施日期 | 2024-04-01 |
| 发布机构 | 工业和信息化部 |
| 范围 | 本文件规定了终端上通用集成电路卡（UICC）与终端间大容量存储接口特性的测试方法，主要包括：电气特性、初始通信协议的建立、性能测试和功能测试。本文件适用于支持大容量存储接口的终端接口的研发和生产。 |
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