[PDF] YD/T 6305-2024 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| YD/T 6305-2024 | RFQ | 点击询价 | <=3 | 安全芯片非入侵式攻击缓解测试方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | YD/T 6305-2024 (YD/T6305-2024) |
| 中文名称 | 安全芯片非入侵式攻击缓解测试方法 |
| 英文名称 | (Non-invasive attack mitigation test method for security chips) |
| 行业 | 邮电行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | L80 |
| 国际标准分类 | 35.030 |
| 发布日期 | 2024-12-10 |
| 实施日期 | 2025-04-01 |
| 发布机构 | 工业和信息化部 |
| 范围 | 本文件规定了安全芯片非入侵式攻击缓解测试方法，包括安全芯片非入侵式攻击缓解的测试要求、测试准备、测试方法与量化指标、以及特殊情况说明等。本文件适用于指导安全芯片的非入侵式攻击缓解测试，从攻击与测试两个角度为厂商提供安全芯片的设计参考 |
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