[PDF] YS/T 14-1991 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| YS/T 14-1991 | 199 | YS/T 14-1991 | <=2 | 异质外延层和硅多晶层厚度的测量方法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | YS/T 14-1991 (YS/T14-1991) |
| 中文名称 | 异质外延层和硅多晶层厚度的测量方法 |
| 英文名称 | (Measurement heteroepitaxial layer and the polycrystalline silicon layer thickness) |
| 行业 | 有色冶金行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | H82 |
| 国际标准分类 | 77.040 |
| 字数估计 | 4,481 |
| 发布日期 | 4/26/1991 |
| 实施日期 | 6/1/1992 |
| 标准依据 | 发改委公告2005年第45号;工业和信息化部公告(2015年第28号) |
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