[PDF] YS/T 1768-2025 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| YS/T 1768-2025 | RFQ | 点击询价 | <=3 | 硅多晶生产用石墨制品表面杂质含量的测定 电感耦合等离子体光谱法 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | YS/T 1768-2025 (YS/T1768-2025) |
| 中文名称 | 硅多晶生产用石墨制品表面杂质含量的测定 电感耦合等离子体光谱法 |
| 英文名称 | Determination of Impurities in the Surface of Graphite Products Used in Polysilicon Production - Inductively-Coupled Plasma Spectrometric Method |
| 行业 | 有色冶金行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | H17 |
| 国际标准分类 | 77.04 |
| 发布日期 | 2025-04-10 |
| 实施日期 | 2025-11-01 |
| 发布机构 | 工业和信息化部 |
| 范围 | 本文件描述了硅多晶生产用石墨制品表面中钠、镁、铝、钾、钙、铬、铁、镍、铜、锌、砷、铅、锰、硼、磷等元素含量的电感耦合等离子体光谱测定方法本文件适用于硅多晶生产用石墨制品中表面杂质元素含量的测定 |
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