[PDF] YS/T 644-2007 - 英文版
| 标准号码 | 美元 | 购买PDF | 工期 | 标准名称(英文版) |
| YS/T 644-2007 | 199 | YS/T 644-2007 | <=3 | 铂钌合金薄膜测定方法 X射线光电子能谱法 测定合金态铂及合金态钌含量 |
| 基本信息 | |
|---|---|
| 标准编号 | YS/T 644-2007 (YS/T644-2007) |
| 中文名称 | 铂钌合金薄膜测定方法 X射线光电子能谱法 测定合金态铂及合金态钌含量 |
| 英文名称 | Determination method of Pt-Ru alloy film. Determination of alloyed Pt content and alloyed Ru content by X-ray photoelectron spectroscopy |
| 行业 | 有色冶金行业标准 (推荐) |
| 中标分类 | H68 |
| 国际标准分类 | 77.120.99 |
| 字数估计 | 6,624 |
| 发布日期 | 2007-04-13 |
| 实施日期 | 2007-10-01 |
| 标准依据 | 发改委公告2007年第22号; |
| 发布机构 | 国家发展和改革委员会 |
| 范围 | 本标准规定了铂钌(Pt-Ru)合金薄膜材料中合金态铂及合金态钌含量(质量分数)的测定方法。本标准适用于铂钌合金薄膜材料中合金态铂及金态钌质量分数的测定, 也可适用于各种铂合金薄膜材料中合金态铂质量分数及其他合金态金属质量分数的测定。测定范围:合金态铂质量分数不小于3%, 合金态钌质量分数不小于3%。本标准不适用于单层厚度不大于10nm的层状薄膜。 |
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