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| 标准号码 | 内文 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 | 状态 |
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GB 3444-1982
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英文版
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RFQ
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询价
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[PDF]天数 >=9
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半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理
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作废
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| 标准编号 | GB 3444-1982 (GB3444-1982) | | 中文名称 | 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 | | 英文名称 | General principles of measuring methods of bipolar random access memory for semiconductor integrated circuits | | 行业 | 国家标准 | | 中标分类 | L56 | | 字数估计 | 33,368 | | 发布日期 | 12/31/1982 | | 实施日期 | 10/1/1983 | | 采用标准 | IEC 147-2, NEQ | ......
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