路径: 主页 > GB > 第63页 > GB 3834-1983
| 标准号码 | 内文 | 价格美元 | 第2步(购买) | 交付天数 | 标准名称 | 状态 |
|
GB 3834-1983
|
英文版
|
RFQ
|
询价
|
[PDF]天数 >=9
|
半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
|
作废
|
| 标准编号 | GB 3834-1983 (GB3834-1983) | | 中文名称 | 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 | | 英文名称 | General principles of measuring methods of CMOS circuits for semiconductor integrated circuits | | 行业 | 国家标准 | | 中标分类 | L56 | | 字数估计 | 38,371 | | 发布日期 | 8/31/1983 | | 实施日期 | 7/1/1984 | | 采用标准 | IEC 147-2, NEQ | ......
|