路径: 主页 > GB/T > 第239页 > GB/T 14032-1992 | 标准编号 | GB/T 14032-1992 (GB/T14032-1992) | | 中文名称 | 半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理 | | 英文名称 | General principles of measuring methods of digital phase-locked loop for semiconductor integrated circuits | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | L55 | | 国际标准分类 | 31.2 | | 字数估计 | 10,113 | | 发布日期 | 12/17/1992 | | 实施日期 | 8/1/1993 | | 发布机构 | 国家技术监督局 | | 范围 | 本标准规定了半导体集成电路数字锁相环(以下简称器件或数字锁相环)电参数测试方法的基本原理。 | ......
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