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| 标准编号 | GB/T 14115-1993 (GB/T14115-1993) | | 中文名称 | 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理 | | 英文名称 | General principles of measuring methods of Sample/Hold amplifiers for semiconductor integrated circuits | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | L56 | | 国际标准分类 | 31.2 | | 字数估计 | 12,198 | | 发布日期 | 1/21/1993 | | 实施日期 | 8/1/1993 | | 引用标准 | GB 3439; GB 3442, | | 发布机构 | 国家技术监督局 | | 范围 | 本标准规定了半导体集成电路采样/保持放大器(以下简称器件)电参数测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路采样/保持放大器的电参数测试。 |
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