标准搜索结果: 'GB/T 17366-2025'
| 标准编号 | GB/T 17366-2025 (GB/T17366-2025) | | 中文名称 | 微束分析 电子探针显微分析 矿物岩石试样的制备方法 | | 英文名称 | Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Methods of specimen preparation for minerals and rocks | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | N53 | | 国际标准分类 | 71.040.99 | | 字数估计 | 9,968 | | 发布日期 | 2025-08-29 | | 实施日期 | 2026-03-01 | | 旧标准 (被替代) | GB/T 17366-1998 | | 发布机构 | 国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会 | GB/T 17366-2025: 微束分析 电子探针显微分析 矿物岩石试样的制备方法
ICS 71.040.99
CCSN53
中华人民共和国国家标准
代替GB/T 17366-1998
微束分析 电子探针显微分析
矿物岩石试样的制备方法
2025-08-29发布
2026-03-01实施
国 家 市 场 监 督 管 理 总 局
国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布
目次
前言 Ⅲ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义 1
4 仪器设备和材料 1
5 试样的基本要求 2
6 试样的制备方法 2
7 试样的镀膜 3
参考文献 4
前言
本文件按照GB/T 1.1-2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定
起草。
本文件代替GB/T 17366-1998《矿物岩石的电子探针分析试样的制备方法》,与GB/T 17366-
1998相比,除结构调整和编辑性改动外,主要技术变化如下:
a) 删除了“方法提要”(见1998年版的第3章);
b) 增加了术语和定义(见第3章);
c) 更改了对仪器设备和材料的要求(见第4章,1998年版的第4章);
d) 更改了块状样品、颗粒样品、微细粉末样品的制备和分析位置的标记(见6.2~6.5,1998年版
的6.1~6.4和第7章);
e) 更改了试样的镀膜(见第7章,1998年版的第8章)。
请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。
本文件由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。
本文件起草单位:中国地质科学院矿产资源研究所、中国科学院地质与地球物理研究所、核工业
北京地质研究院、首钢集团有限公司、广东省科学院工业分析检测中心、中国科学院化学研究所。
本文件主要起草人:陈振宇、毛骞、范光、鞠新华、伍超群、王岩华、周剑雄。
本文件于1998年首次发布,本次为第一次修订。
微束分析 电子探针显微分析
矿物岩石试样的制备方法
1 范围
本文件描述了各类矿物、岩石等地质样品的电子探针显微分析试样的通用制备方法。
本文件适用于矿物、岩石的电子探针显微分析试样的制备。
2 规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文
件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于
本文件。
GB/T 41074 微束分析 用于波谱和能谱分析的粉末试样制备方法
3 术语和定义
下列术语和定义适用于本文件。
3.1
光片 polishedsection
将块状岩石或矿石样品切割磨制成一定大小、单面抛光、能在反射光下显微观察的试样。
注:光片一般适用于不透明金属矿物较多的样品。
3.2
光薄片 thinsection
将块状岩石或矿石样品切割磨制成一定大小、双面抛光、能在透射光和反射光下显微观察的试样。
注:光薄片一般适用于以透明矿物为主的岩石样品,磨制厚度根据显微镜观察需要一般为30μm~100μm。
3.3
砂光片 sandpolishedsection;sandpolishedmount
将颗粒样品镶嵌后磨平、抛光的试样。
注:砂光片一般针对毫米级及以下的颗粒样品,有时厘米级不规则块状样品也镶嵌后制成规整的砂光片。
4......
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