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[PDF] GB/T 17554.1-2025 - 英文版

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GB/T 17554.1-2025 英文版 999 GB/T 17554.1-2025 [PDF]天数 <=7 卡及身份识别安全设备 测试方法 第1部分:一般特性 有效

基本信息
标准编号 GB/T 17554.1-2025 (GB/T17554.1-2025)
中文名称 卡及身份识别安全设备 测试方法 第1部分:一般特性
英文名称 Cards and security devices for personal identification - Test methods - Part 1: General characteristics
行业 国家标准 (推荐)
中标分类 L70
国际标准分类 35.240.15
字数估计 50,519
发布日期 2025-02-28
实施日期 2025-09-01
发布机构 国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会

GB/T 17554.1-2025: 卡及身份识别安全设备 测试方法 第1部分:一般特性 GB/T 17554.1-2025 英文版: Cards and security devices for personal identification - Test methods - Part 1: General characteristics ICS 35.240.15 CCSL70 中华人民共和国国家标准 代替GB/T 17554.1-2006 卡及身份识别安全设备 测试方法 第1部分:一般特性 Cardsandsecuritydevicesforpersonalidentification-Testmethods- Part1:Generalcharacteristics (ISO/IEC 10373-1:2020,MOD) 2025-02-28发布 2025-09-01实施 国 家 市 场 监 督 管 理 总 局 国 家 标 准 化 管 理 委 员 会 发 布 目次 前言 Ⅴ 引言 Ⅶ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语、定义和缩略语 1 3.1 术语和定义 1 3.2 缩略语 3 4 测试方法的默认项 3 4.1 测试环境 3 4.2 预处理 3 4.3 测试方法选择 3 4.4 默认容差 3 4.5 总测量不确定度 3 5 测试方法 3 5.1 卡翘曲 3 5.2 卡尺寸 4 5.3 剥离强度 5 5.4 包括卡边缘的剥离强度 8 5.5 耐化学性 13 5.6 在温度和湿度条件下卡尺寸的稳定性和翘曲 15 5.7 粘连或并块 16 5.8 弯曲韧性 16 5.9 动态弯曲应力 18 5.10 动态扭曲应力 21 5.11 阻光度 23 5.12 紫外线 23 5.13 X-射线 24 5.14 字符凸印的凸起高度 24 5.15 抗热度 25 5.16 表面畸变、凸起区域和凹陷区域 26 5.17 有毒有害物质含量 26 6 用于IC卡的测试方法 26 6.1 带触点的IC卡电气测量约定 26 6.2 带触点的IC卡测量装置 26 6.3 带触点的IC卡触点尺寸和位置 28 6.4 触点机械强度 29 6.5 ESD---对带触点的IC卡的静电放电 31 6.6 ESS---对PICC和VICC的静电应力 31 6.7 带触点的IC卡触点表面电阻 32 6.8 带触点的IC卡触点表面轮廓 33 6.9 IC卡---机械强度:用于带触点的IC卡的三轮测试 35 参考文献 39 图1 翘曲测量装置 4 图2 象限分布 5 图3 卡的准备 6 图4 剥离试验的样品准备 7 图5 安装在拉力测试仪中的样品 7 图6 剥离强度图记录示例 8 图7 稳定板(顶视图和侧视图) 9 图8 导轨(端视图) 9 图9 卡的准备 10 图10 剥离试验的样品准备 10 图11 安装在拉力测试仪中的样品和稳定板 11 图12 相邻负尖峰和正尖峰的示例 11 图13 剥离强度图记录示例 12 图14 加载荷前夹具中的卡 17 图15 加载荷期间夹具中的卡 17 图16 移去载荷后夹具中的卡 18 图17 动态弯曲测试设备 19 图18 轴的定义 21 图19 扭曲试验机 22 图20 压力周期函数 22 图21 测量阻光度的各区域 23 图22 曝露于温度前夹紧装置中的卡 25 图23 曝露于温度后夹紧装置中的卡 26 图24 IC卡固定器 27 图25 平整板 27 图26 固定器上IC卡和平整板的位置 28 图27 带有定位模板和钢球或圆形尖端组件的默认IC卡固定器和平整板 30 图28 定位模板 30 图29 ESD测试电路 31 图30 PICC或VICC的ESD测试区域 32 图31 测试探头 33 图32 测量探头 34 图33 C1到C5的测量线 35 图34 三轮测试原理 35 图35 滚轮的位置和IC卡的初始位置 36 图36 轴A、轴B和轴C的位置 37 图37 IC卡的插入位置 38 表1 短期影响试剂 13 表2 长期影响试剂 14 表3 绕轴A弯曲尺寸 20 表4 绕轴B弯曲尺寸 20 前言 本文件按照GB/T 1.1-2020《标准化工作导则 第1部分:标准化文件的结构和起草规则》的规定 起草。 本文件是GB/T 17554的第1部分。GB/T 17554已经发布了以下部分: ---卡及身份识别安全设备 测试方法 第1部分:一般特性; ---识别卡 测试方法 第2部分:带磁条的卡; ---识别卡 测试方法 第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备; ---识别卡 测试方法 第7部分:邻近式卡。 本文件代替 GB/T 17554.1-2006《识别卡 测试方法 第 1 部分:一般特性测试》,与 GB/T 17554.1-2006相比,除结构调整和编辑性改动外,主要技术变化如下: ---增加了“基础标准”“静电放电”“静电应力”等术语和定义(见3.1.12、3.1.13、3.1.14); ---删除了“可燃性”“<光>透射比”“透射密度”“正常使用”等术语和定义(见2006年版的3.12、 3.13、3.14、3.15); ---删除了“按照卡所呈现的特征选择测试”(见2006年版的表1); ---更改了“总度量的不确定”,描述为“总测量不确定度”(见4.5,2006年版的4.5); ---删除了“可燃性”“静磁场”测试方法(见2006年版的5.10、5.14); ---增加了“包括卡边缘的剥离强度”“表面畸变、凸起区域和凹陷区域”“有毒有害物质含量”测试 方法(见5.4、5.16、5.17); ---对动态弯曲应力标定方法进行了技术改进,增加了“校准方法”(见5.9.3,2006年版的5.8); ---更改了“阻光度”光谱测量范围,以满足基础标准GB/T 14916-2022的要求(见5.11,2006年 版的5.11); ---增加了“用于IC卡的测试方法”(见第6章)。 本文件修改采用ISO/IEC 10373-1:2020《卡及身份识别安全设备 测试方法 第1部分:一般特 性》。 本文件与ISO/IEC 10373-1:2020相比做了下述结构调整: ---增加5.12(紫外线)和5.17(有毒有害物质含量),删除ISO/IEC 10373-1:2020中的3.1.12、 3.1.16、6.8、附录A、附录B、图21、图22和图23; ---3.1.12对应ISO/IEC 10373-1:2020中的3.1.13; ---3.1.13对应ISO/IEC 10373-1:2020中的3.1.14; ---3.1.14对应ISO/IEC 10373-1:2020中的3.1.15; ---5.13对应ISO/IEC 10373-1:2020中的5.12; ---5.14对应ISO/IEC 10373-1:2020中的5.13; ---5.15对应ISO/IEC 10373-1:2020中的5.14; ---5.16对应ISO/IEC 10373-1:2020中的5.15; ---6.8对应ISO/IEC 10373-1:2020中的6.9; ---6.9对应ISO/IEC 10373-1:2020中的6.10。 本文件与ISO/IEC 10373-1:2020的技术差异及其原因如下: ---用规范性引用的GB/T 4937.26替换了IEC 60749-26(见6.5),以适应我国的技术条件; ---用规范性引用的GB/T 10125替换了ISO 9227(见5.5),以适应我国的技术条件; ---用规范性引用的GB/T 14916替换了ISO/IEC 7810(见5.3.1),以适应我国的技术条件; ---用规范性引用的GB/T 16649.1替换了ISO/IEC 7816-1(见6.4.4),以适应我国的技术条件; ---用规范性引用的GB/T 16649.2替换了ISO/IEC 7816-2(见6.3),以适应我国的技术条件; ---用规范性引用的GB/T 17554.2替换了ISO/IEC 10373-2(见5.16),以适应我国的技术条件; ---用规范性引用的GB/T 17626.2替换了IEC 61000-4-2(见6.6.2),以适应我国的技术条件; ---用GB/T 6682替换了ISO 3696(见5.5),以适应我国的技术条件,并放入参考文献中; ---删除了“双界面芯片卡”“静电放电电导率”等2个术语和定义(见ISO/IEC 10373-1:2020的 3.1.12、3.1.16); ---增加了GB/T 39560(所有部分)的规范性引用,为增加的“有毒有害物质含量”要求提供测试 方法; ---删除了ISO/IEC 10373-1:2020的3.1.2e),仅记忆卡在国内无实际应用(见3.1.2); ---更改了“阻光度”的测试方法,以配套基础标准GB/T 14916-2022的要求,符合国内应用现状 (见5.11,ISO/IEC 10373-1:2020的5.11); ---增加了“紫外线”(见5.12)“有毒有害物质含量”(见5.17)等2个测试方法,以配套基础标准 GB/T 14916-2022中“光”“有毒性”的要求; ---删除了“关于静电效应的附加试验方法”(见ISO/IEC 10373-1:2020的6.8)。 本文件做了下列编辑性改动: ---纳入了ISO/IEC 10373-1:2020/Amd1:2023的修正内容,所涉及的条款的外侧页边空白位置 用垂直双线(‖)进行了标示; ---删除了资料性附录中引用的文件“ANSI/ESDA/JEDECJS-002”(见ISO/IEC 10373-1:2020 的第2章); ---更改了3.2中缩略语的描述方式以符合国家标准的要求(见ISO/IEC 10373-1:2020的3.2); ---更改了图26中原文标引序号2重复的问题(见ISO/IEC 10373-1:2020的图28); ---更改了6.4.4中原文的编辑性错误:“ISO/IEC 7810”应为“ISO/IEC 7816-1”,对应国家标准改 为“GB/T 16649.1”(见ISO/IEC 10373-1:2020的6.4.4)。 请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。 本文件由全国信息技术标准化技术委员会(SAC/TC28)提出并归口。 本文件起草单位:中国电子技术标准化研究院、深圳赛西科技有限公司、公安部第一研究所、易联众 信息技术股份有限公司、中关村芯海择优科技有限公司、紫光同芯微电子有限公司、珠海禾田电子科技 有限公司、北京中科佐迪克电子科技发展有限公司、东信和平科技股份有限公司、金邦达有限公司、北京 中电华大电子设计有限责任公司、中国移动通信有限公司研究院、中国联合网络通信集团有限公司、环 鸿电子(昆山)有限公司、北京华弘集成电路设计有限责任公司、珠海全球时代科技有限公司。 本文件主要起草人:金倩、冯敬、肖培森、何兰、王清智、楼水勇、陈龙聪、张坤宝、徐木平、乔申杰、 李梦雅、李征、曹龙涛、李晨光、单志炜、付青琴、游肖君、林博彦、程文杰、韩博、叶新文。 本文件及其所代替文件的历次版本发布情况为: ---1998年首次发布为GB/T 17554-1998,2006年第一次修订; ---本次为第二次修订。 引 言 用于身份识别的卡及身份识别安全设备包括了磁条卡、带触点的集成电路卡、无触点接近式对象、 无触点邻近式对象等。针对不同实现技术的卡及身份识别安全设备,我国陆续制定并发布了相关国家 标准:GB/T 14916《识别卡 物理特性》、GB/T 15120《识别卡 记录技术》、GB/T 16649《识别卡 集 成电路卡》、GB/T 42756《卡及身份识别安全设备 无触点接近式对象》和GB/T 22351《识别卡 无触 点的集成电路卡 邻近式卡》等,上述标准规定了不同实现技术的要求。 GB/T 17554《卡及身份识别安全设备 测试方法》为上述技术标准的配套测试方法标准,根据不同 的实现技术,拟由五个部分构成。 ---第1部分:一般特性。目的在于为符合GB/T 14916的识别卡提供一般特性的标准符合性测 试方法。 ---第2部分:带磁条的卡。目的在于为符合GB/T 15120的磁条卡提供标准符合性测试方法。 ---第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备。目的在于为符合GB/T 16649的带触点 集成电路卡及相关接口设备提供标准符合性测试方法。 ---第6部分:无触点接近式对象。目的在于为符合GB/T 42756的无触点接近式对象提供标准 符合性测试方法。 ---第7部分:邻近式卡。目的在于为符合GB/T 22351的邻近式卡提供标准符合性测试方法。 卡及身份识别安全设备 测试方法 第1部分:一般特性 1 范围 本文件规定了符合GB/T 14916和其他标准[如 GB/T 15120(所有部分)、GB/T 16649(所有部 分)、GB/T 42756(所有部分)、GB/T 22351(所有部分)等]的卡及身份识别安全设备一般特性的测试 方法。 本文件适用于卡及身份识别安全设备的设计、制造、应用和测试。 注1:测试通过的准则不构成本文件的一部分,但能够在其他国家标准中找到。 注2:本文件中描述的测试方法预期单独执行。给定的卡不要求按顺序通过所有测试。 2 规范性引用文件 下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文 件,仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于 本文件。 GB/T 4937.26 半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分:静电放电(ESD)敏感度测试 人体模型(HBM)(GB/T 4937.26-2021,IEC 607......

相关标准: GB/T 28826.2  GB/T 47018  GB/T 47019  GB/T 17554.2