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| 标准编号 | GB/T 17554.7-2010 (GB/T17554.7-2010) | | 中文名称 | 识别卡 测试方法 第7部分：邻近式卡 | | 英文名称 | Identification cards -- Test methods -- Part 7: Vicinity cards | | 行业 | 国家标准 (推荐) | | 中标分类 | L64 | | 国际标准分类 | 35.240.15 | | 字数估计 | 26,296 | | 发布日期 | 2010-12-01 | | 实施日期 | 2011-04-01 | | 引用标准 | GB/T 14916; GB/T 17626.2; GB/T 22351.1; GB/T 22351.2-2010; GB/T 22351.3; ISO Guide-1993(ISBN 92-67-10188-9), | | 采用标准 | ISO/IEC 10373-7-2008, MOD | | 标准依据 | 国家标准批准发布公告2010年第9号(总第164号) | | 发布机构 | 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会 | | 范围 | GB/T 17554规定了符合GB/T 14916识别卡特性的测试方法。每一测试方法交又引用一个或多个基础标准, 这些基础标准可以是GB/T 14916或一个或多个定义了用于识别卡应用的信息存储技术的补充标准。 | GB/T 17554.7-2010
Identification cards.Test methods.Part 7: Vicinity cards
ICS 35.240.15
L64
中华人民共和国国家标准
识别卡 测试方法
第7部分:邻近式卡
(ISO/IEC 10373-7:2008,MOD)
2010-12-01发布
2011-04-01实施
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局
中国国家标准化管理委员会发布
目次
前言 Ⅰ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 术语和定义、缩略语和符号 1
4 适用于测试方法的默认条款 2
5 静电测试 2
6 测试装置和测试电路 3
7 VICC的功能测试 6
8 VCD的功能测试 7
9 VICC的工作场强测试 8
附录A(规范性附录) 测试VCD天线 9
附录B(资料性附录) 测试VCD天线调谐 11
附录C(规范性附录) 传感线圈 13
附录D(规范性附录) 用于VCD功率测试的参考VICC 15
附录E(资料性附录) 用于负载调制测试的参考VICC 17
附录F(资料性附录) 频谱计算程序 18
前言
GB/T 17554在《识别卡 测试方法》总标题下,目前分为如下7个部分:
---第1部分:一般特性测试;
---第2部分:磁条卡;
---第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备;
---第4部分:无触点集成电路卡;
---第5部分:光记忆卡;
---第6部分:接近式卡;
---第7部分:邻近式卡。
本部分为GB/T 17554的第7部分。本部分使用重新起草法,修改采用国际标准ISO/IEC 10373-
7:2008《识别卡 测试方法 第7部分:邻近式卡》(英文版)。
本部分与ISO/IEC 10373-7:2008相比,增加和修改了下列内容,并在相应条款的外侧页边空白处
用单垂线标示:
a) 为了使标准更加清晰易懂,增加了缩略语PCB;
b) 为了便于引用,8.1.2做了编辑性修改;
c) 为了避免实际应用中可能出现在规定的工作区域内VICC不能正常工作的情况,增加第9章
工作场强测试。
本部分的附录A、附录C和附录D是规范性附录。
本部分的附录B、附录E和附录F是资料性附录。
本部分由全国信息技术标准化技术委员会(SAC/TC28)提出并归口。
本部分起草单位:中国电子技术标准化研究所、东信和平智能卡股份有限公司。
本部分主要起草人:冯敬、高林、袁理、金倩、黄小鹏、耿力、赵子渊。
识别卡 测试方法
第7部分:邻近式卡
1 范围
GB/T 17554规定了符合GB/T 14916识别卡特性的测试方法。每一测试方法交叉引用一个或多
个基础标准,这些基础标准可以是GB/T 14916或一个或多个定义了用于识别卡应用的信息存储技术
的补充标准。
注1:接收准则不包含在本部分中,而是在以上提及的国家标准中。
注2:GB/T 17554描述的若干测试方法可单独实施。规定的卡不要求顺序地通过所有测试。
GB/T 17554的本部分规定了无触点集成电路卡技术(邻近式卡)的测试方法。第1部分规定了为
一种或多种卡技术所共用的测试方法;其他部分则规定了各个专项技术的测试方法。
除非另有规定,本部分中的测试仅适用于GB/T 22351.1和GB/T 22351.2中定义的邻近式卡。
2 规范性引用文件
下列文件中的条款通过GB/T 17554的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文
件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协
议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
GB/T 14916 识别卡 物理特性(GB/T 14916-2006,ISO/IEC 7810:2003,IDT)
GB/T 17626.2 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验(GB/T 17626.2-2006,
IEC 61000-4-2:2001,IDT)
GB/T 22351.1 识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第1部分:物理特性(GB/T 22351.1-
2008,ISO/IEC 15693-1:2000,IDT)
GB/T 22351.2-2010 识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第2部分:空中接口和初始化
(ISO/IEC 15693-2:2000,IDT)
GB/T 22351.3 识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第3部分:防冲突和传输协议
(GB/T 22351.3-2008,ISO/IEC 15693-3:2001,IDT)
ISBN92-67-10188-9 对度量不确定性表达的指南,ISO,1993版
3 术语和定义、缩略语和符号
3.1 术语和定义
下列术语和定义适用于本部分。
3.1.1
基础标准 basestandard
利用测试方法验证所要符合的标准。
3.1.2
预期操作 operateasin......
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