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[PDF] GB/T 17626.6-2008 - 自动发货. 英文版

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GB/T 17626.6-2008 英文版 370 GB/T 17626.6-2008 3分钟内自动发货[PDF] 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度 作废

基本信息
标准编号 GB/T 17626.6-2008 (GB/T17626.6-2008)
中文名称 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度
英文名称 Electromagnetic compatibility - Testing and measurement techniques - Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields
行业 国家标准 (推荐)
中标分类 L06
国际标准分类 33.100
字数估计 39,322
发布日期 2008-05-20
实施日期 2009-01-01
旧标准 (被替代) GB/T 17626.6-1998
引用标准 GB/T 4365; GB/T 6113.1
采用标准 IEC 61000-4-6-2006, IDT
起草单位 中国电子科技集团公司第三研究所
归口单位 全国电磁兼容标准化技术委员会(SAC/TC 246)
标准依据 国家标准批准发布公告2008年第8号(总第121号)
提出机构 全国电磁兼容标准化技术委员会(SAC/TC 246)
发布机构 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
范围 GB/T 17626的本部分是关于电气和电子设备对来自9kHz～80MHz频率范围内射频发射机电磁骚扰的传导抗扰度要求。设备至少通过一条连接电缆与射频场相耦合。本部分的目的是当电气和电子电器设备受到由射频场感应的传导骚扰时, 建立一个评估抗扰度性能的公用参考。在GB/T 17626的本部分中所规定的测试方法为评估设备或系统对定义的电磁现象的抗扰度表述了一致的方法。

GB/T 17626.6-2008: 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度 GB/T 17626.6-2008 英文名称: Electromagnetic compatibility -- Testing and measurement techniques -- Immunity to conducted disturbances, induced by radio-frequency fields 中华人民共和国国家标准 GB/T １７６２６．６-２００８／IEC ６１０００-４-６：２００６ 代替 GB/T １７６２６．６-１９９８ 电磁兼容　试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会发布 １　范围 GB/T １７６２６的本部分是关于电气和电子设备对来自９ｋＨｚ～８０ＭＨｚ频率范围内射频发射机电 磁骚扰的传导抗扰度要求。设备至少通过一条连接电缆（如电源线、信号线、地线等）与射频场相 耦合。 注：本部分规定的测量方法，用于测量传导骚扰信号的影响。该信号是由与设备有关的电磁辐射感应的，这些传导 骚扰的模拟和测量对于定量地确定影响不是十分精确。而制定本方法的主要目的是对各类设备建立充分的 重现性的结果，以便定性地分析影响。 本部分的目的是当电气和电子电器设备受到由射频场感应的传导骚扰时，建立一个评估抗扰度性 能的公用参考。在GB/T １７６２６的本部分中所规定的测试方法为评估设备或系统对定义的电磁现象的 抗扰度表述了一致的方法。 注：正如IEC 导则１０７中所述的，这是为IEC 产品委员会所用的ＥＭＣ基础出版物。也正如导则１０７声明的，IEC 产品委员会负责确定是否采用本抗扰度标准，如果采用，他们负责确定适当的测试等级和性能判据。ＴＣ７７和 其分委员会准备与产品委员会合作，以便于他们产品的特定抗扰度试验价值的评估。 ２　规范性引用文件 下列文件中的条款通过GB/T １７６２６的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文 件，其随后所有的修改单或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否 可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。 GB/T ４３６５　电工术语　电磁兼容（GB/T ４３６５-２００３，IEC ６００５０（１６１）：１９９０，ＩＤＴ） GB/T ６１１３．１　无线电骚扰和抗扰度测量设备规范 （GB/T ６１１３．１-１９９５，ｅｑｖＣＩＳＰＲ１６-１：１９９３） ３　术语和定义 GB/T ４３６５确立的以及下列术语和定义适用于GB/T １７６２６的本部分。 ４　概述 本部分所涉及的骚扰源，通常是指来自射频发射机的电磁场。该电磁场可能作用于连接安装设备 的整个电缆上。虽然被骚扰设备（多数是较大系统的一部分）的尺寸，比骚扰频率的波长小，但输入和输 出线，例如电源线、通信线、接口电缆等，由于其长度可能是几个波长，则可能成为无源的接收天线网络。 假定连接设备的电缆网络是处于谐振的方式（λ／４和λ／２开路或折合偶极子），电缆系统间的敏感 设备易受到流经设备的骚扰电流的影响。由相对于接地参考平面（板）具有１５０Ω共模阻抗的耦合和去 耦网络代表这种电缆系统。被测设备可能要被测试的地方两端连接两个１５０Ω的共模阻抗：一端提供 射频信号源，另一端提供电流回路。 该测量方法是使受试设备在骚扰源作用下形成的电场和磁场来模拟来自实际发射机的电场和磁 场，由图２ａ）所示。这些骚扰场（电场和磁场）是由试验装置所产生的电压或电流所形成的近区电场和 磁场来近似表示的。如图２ｂ）所示，用耦合和去耦装置提供骚扰信号给某一电缆，同时保持其他电缆不 GB/T １７６２６．６-２００８／IEC ６１０００-４-６：２００６ 受影响，只近似于骚扰源以不同的幅度和相位范围同时作用于全部电缆的实际情况。 耦合和去耦装置是根据６．２中给出的特性所定义的。任何满足这些特性的耦合和去耦装置都可以 使用。附录Ａ中的耦合和去耦网络仅仅是实际使用网络的例子。 ５　试验等级 在９ｋＨｚ～１５０ｋＨｚ频率范围内，对来自射频发射机的电磁场所引起的感应骚扰不要求测量。 ６　测量设备 ６．１　试验信号发生器 试验信号发生器包括在所要求点上以规定的信号电平将骚扰信号施加给每个耦合装置输入端口的 全部设备和部件。以下部件的典型组装可以是分立的，也可以组合为一个或多个测量设备（见图３）。 ---射频信号发生器Ｇ１：其能覆盖所规定的频段，用１ｋＨｚ正弦波调幅，调制度为８０％。它应有 手动控制能力（比如，频率，幅度和调制度），或在射频合成器的情况下，将频率-步长和驻留时 间编程。 ---衰减器Ｔ１（典型０ｄＢ～４０ｄＢ）：为控制骚扰测量信号源的输出电平，应有合适的频率特性，Ｔ１ 可包含在射频信号发生器中或可选择。 ---射频开关Ｓ１：当测量受试设备的抗扰度时，可以接通和断开骚扰信号的射频开关。Ｓ１可以包 含在射频信号发生器中，或者是附加的。 ---宽带功率放大器ＰＡ：当射频信号发生器的输出功率不足时，需要加功率放大器。 ---低通滤波器ＬＰＦ和／或高通滤波器 ＨＰＦ：为避免干扰某些类型的受试设备，例如，（次）谐波可 能对射频接收机产生干扰，需要时，应将它们插在宽带功率放大器ＰＡ和衰减器Ｔ２之间。 ---衰减器Ｔ２：具有足够额定功率的衰减器（固定≥６ｄＢ，Z０＝５０Ω）。提供衰减是为了减小从功 率放大器到网络的失配。 注：Ｔ２可包含在耦合和去耦网络中，如果宽带功率放大器的输出阻抗在任何条件下可保持在规范内，可省略它。 未调制时信号发生器的特性由表２给出： ６．２　耦合和去耦装置 耦合和去耦装置被用于将骚扰信号合适地耦合到连接受试设备的各种电缆上（覆盖全部频率，在受 GB/T １７６２６．６-２００８／IEC ６１０００-４-６：２００６ 试设备端口上具有规定的共模阻抗），并防止测试信号影响非被测装置、设备和系统。 耦合和去耦装置可组成一个盒子（称作：耦合／去耦网络（ＣＤＮ）），或由几部分组成。耦合和去耦装 置的主要参数，在受试设备端口看进去的共模阻抗应符合表３规定。 ６．２．１　耦合和去耦网络（CDN狊） 这些网络包含的耦合和去耦合电路是在一个盒子中，并且可用于特定的非屏蔽电缆，例如ＣＤＮ- Ｍ１，ＣＤＮ-Ｍ２，ＣＤＮ-Ｍ３，ＣＤＮ-Ｔ２，ＣＤＮ-Ｔ４和ＣＤＮ-ＡＦ２，见附录Ｄ。耦合和去耦网络的典型原理由 图５ｃ）和图５ｄ）给出。网络不应过分地影响功能信号。在产品标准中可规定对这种影响的限制。 ６．２．１．１　用于电源线的耦合和去耦网络CDN 全部电源连接推荐使用耦合和去耦网络。而对于高功率（电流≥１６Ａ）和／或复杂电源系统（多相 或各种并联电源电压）可选择其他注入法。 用ＣＤＮ-Ｍ１（单线），ＣＤＮ-Ｍ２（双线），ＣＤＮ-Ｍ３（三线）或等效网络（见附录Ｄ），使骚扰信号耦合到 电源线。对三相电源系统可规定类似网络。耦合电路如图５ｃ）中给出。 不应由被测设备的工作电流导致磁性材料的饱和而引起耦合去耦网络的性能过度降低。无论如 何，网络的结构应该确保正向电流的磁效应可以被返回电流的磁效应相抵消。 如果实际安装中，电源线可各自分开走线，应用分立的耦合和去耦网络ＣＤＮ-Ｍ１。全部输入口应 分开处理。 如果受试设备提供有其他地端子（例如，为了射频的目的或者大的漏电流），这些地端子应连接到接 地参考平面上： ---当受试设备的特性或规范允许通过ＣＤＮ-Ｍ１时，在这种情况下，供电电源应通过ＣＤＮ-Ｍ３ 提供； ---由于射频或其他原因，当受试设备的特性和规范不允许有一ＣＤＮ-Ｍ１网络串联于地端子上， 地端子应直接连接到接地参考平面上。在该情况下，ＣＤＮ-Ｍ３网络应由ＣＤＮ-Ｍ２网络取代， 以防止由保护地导体形成射频短路电路。当设备已经通过ＣＤＮ-Ｍ１或ＣＤＮ-Ｍ２供电，运行 中应保留它们。 警告：由于电容器跨接在CDN的带电部分之间，结果可能产生较高漏电流，必须有CDN到接地参 考平面的安全连接（在某些情况下，这些连接可由CDN的结构提供）。 ６．２．１．２　用于非屏蔽的平衡线的耦合和去耦网络 为了耦合和去耦骚扰信号，对有平衡线的非屏蔽电缆可由ＣＤＮ-Ｔ２、ＣＤＮ-Ｔ４或ＣＤＮ-Ｔ８作为耦合 和去耦网络。在附录Ｄ中图Ｄ．４、图Ｄ．５和图Ｄ．６给出这些电路简图。 ６．２．１．３　对非屏蔽的不平衡线的耦合和去耦 为了耦合和去耦骚扰信号，对非屏蔽的不平衡线，可采用图Ｄ．３所述的耦合和去耦网络。 ---ＣＤＮ-ＡＦ２用于两线的电缆。 对非屏蔽多芯电缆，用钳注入法更合适。 ６．２．２　钳注入装置 对钳注入装置，耦合和去耦功能是分开的。由钳合式装置提供耦合，而共模阻抗和去耦功能是 建立在辅助设备上的。就此而言，辅助设备是耦合和去耦装置的一部分（见图６），７．３给出正确的使 用说明。 当用电磁钳或电流钳不满足７．３所给定的要求时，应采用７．４所规定的程序。在该程序中，感应电 压用６．４．１所述的同样方法设置。另外应监视并修正产生的电流。在这个过程中，可能会使用一个更 低的共模阻抗，但是共模电流限制在流经１５０Ω信号源的电流的值。 ６．２．２．１　电流钳 该装置对连接到设备的电缆建立一感性耦合，例如用５∶１匝变换比的共模串联阻抗，相对于由辅 助设备建立的１５０Ω电阻可忽略不计。在这种情况下，信号发生器的输出阻抗（５０Ω）转换成２Ω。其 他的线匝比也可以使用，见附录Ａ。 注１：当用电流钳时，应注意在耦合装置的ＥＵＴ端口上呈现的功率放大器（ＰＡ）所产生的高次谐波电平不应高于 基波电平。 注２：通常必须使电缆通过钳的中心位置，以使电容耦合最小。 ６．２．２．２　电磁钳 电磁钳的作用是对连接受试设备的电缆建立感性和容性耦合。在附录Ａ中描述了电磁钳的结构 和性能。 ６．２．３　直接注入装置 来自试验信号发生器的骚扰信号通过１００Ω电阻被注入到同轴电缆的屏蔽层上（即使屏蔽层未接 地或仅仅只有一个接地点）。在辅助设备和注入点之间（见图５ｂ）），应尽可能靠近注入点插入一个去耦 电路（见６．２．４）。为了提高去耦和稳定电路，应将直接注入装置输入端口的地与接地参考平面连接。 这个连接应在注入装置的连接辅助设备的一端进行。 注：当直接连接到金属膜屏蔽层时，要注意确保良好的地连接，以得到可靠的测试结果。 对某些结构简单的屏蔽电缆，去耦电路与１００Ω电阻可装在一个盒子中（见附录Ｄ，图Ｄ．１）。 ６．２．４　去耦网络 通常，去耦网络由各种电感组成，以便在整个频率范围内产生高阻抗。这由所用铁氧体材料确定， 并要求在１５０ｋＨｚ频率上至少是２８０μＨ的电感量。电抗应足够高，在２６ＭＨｚ以下频率电抗应大于 GB/T １７６２６．６-２００８／IEC ６１０００-４-６：２００６ 等于２６０Ω，在２６ＭＨｚ以上频率电抗应大于等于１５０Ω。电感量或由绕在铁氧体环上给定数目的线圈 获得（见图５ｄ）），或由套在电缆上的一些铁氧体环获得（通常是钳合式管）。 除非本部分中特别声明，否则，附录Ｄ中规定的耦合和去耦网络作为去耦网络使用时，射频输入端 口无需端接负载。当耦合和去耦网络这样使用时，它们要满足本章节的要求。 此外，去耦网络应用在不被测量但连接到受试设备和／或辅助设备的全部电缆上。对于例外情况， 见７．７。 ６．３　耦合和去耦装置的受试设备端口上共模阻抗的验证 耦合和去耦装置是由受试设备端口上看进去的共模阻抗｜Zｃｅ｜来表征的。其正确值保证测量结果 的重现性。耦合和去耦装置的共模阻抗的校验使用如图７所示的配置。 耦合和去耦装置和阻抗参考平面（图７ａ））应放在接地参考平面上，接地参考平面的尺寸应超过装 置所有边的几何投影尺寸至少０．２ｍ。 阻抗参考平面应通过如图７ａ）所示小于或等于３０ｍｍ的距离被连接到耦合和去耦网络的被测设备 端口。阻抗平面连接器上共模阻抗的幅值应被测量。 如图７ｂ）所示，当输入端口接５０Ω负载且辅助设备端口以共模方式用短路和开路条件依次加载 时，耦合和去耦网络应满足６．２中表３的阻抗要求。该要求保证足够的衰减和使辅助设备（例如：开路 或短路）的输入无意义。 如果用钳注入或直接注入，则验证连接到受试设备的每个辅助设备配置的共模阻抗是不现实的，通 常按７．３所给程序即满足要求。在所有其他情况下，应采用７．４规定的程序。 ６．３．１　１５０Ω至５０Ω适配器的插入损耗 在测试前，测试信号源设置时，测试电平必须在一个共模阻抗１５０Ω的环境中校验。如图７ｃ）所 示，通过１５０Ω至５０Ω适配器将５０Ω的测量设备连接到适当的共模点来实现。适配器的结构如图 ７ｄ）和图７ｅ）所示。 适配器应放置在接地参考平面上，接地参考平面的尺寸应超出测试配置的所有边界几何投影至少 ０．２ｍ。根据图７ｃ）的原理测量的插入损耗值应在９．５±０．５的范围内（理论值９．５ｄＢ是由附加的串联 阻抗在５０Ω系统中测量得到的）。如果有必要，测试布置的电缆损耗应补偿在内。建议在接收机和信 号源的输入输出端口上使用合适电压驻波比（≤１．２）的衰减器。 ６．４　试验信号发生器的设置 应采用６．４．１中的程序正确调整未调制的试验电平，应保证试验信号发生器，耦合和去耦装置以及 １５０Ω至５０Ω适配器满足６．１、６．２和６．３．１的要求。 警告：试验信号发生器调整过程中，对耦合和去耦装置的受试设备端口和辅助设备端口的全部连 接，除了要求的外（见图８），为避免短路或为避免测量设备的损坏均不应连接。 应用无调制载波设定试验信号发生器的输出电平（见６．４．１），然后加调制进行正确调整并用射频 示波器检验调制波形。 测试信号源的输出电平可以通过测量放大器输出功率或射频信号发生器的输出来确定，只要保证 测试设备的稳定性即可。 施加在被测设备上所有的测试频率的电平都必须确定已经过修正。 ６．４．１　耦合装置的受试设备端口上输出电平的设置 试验信号发生器应该连接到耦合装置的射频输入端口，耦合装置的受试设备端口以共模方式通过 １５０Ω至５０Ω适配器连接到输入阻抗为５０Ω的测量仪上，辅助设备端口应用１５０Ω至５０Ω适配器以 共模方式加载并端接５０Ω电阻。全部耦合和去耦装置的配置如图８所示。 注：对于直接注入，如果屏蔽层被连接到辅助设备端口一侧的接地参考平面时，不需要在辅助设备端口接１５０Ω 负载。 ７　用于台式和落地式设备的试验配置 受试设备应放在接地参考平面上面０．１ｍ高的绝缘支架上。所有与被测设备连接的电缆应放置 于接地参考平面上方至少３０ｍｍ的高度上。 如果设备被设计为安装在一个面板、支架和机柜上，那么它应该在这种配置下进行测试。当需要用 一种方式支撑测试样品时，这种支撑应由非金属、非导电材料构成。设备的接地应与生产商的安装说明 一致。 在需要使用耦合和去耦装置的地方，它们与被测设备之间的距离应在０．１ｍ到０．３ｍ之间。这个 距离是从被测设备对接地参考平面的投影到耦合和去耦装置的水平测量距离。参见图６、图９和图１０。 ７．１～７．７提供更细节的信息。 ７．１　选择注入法和试......